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本科毕业设计（论文）外文翻译译文 学生姓名： 田波波 院 （系）： 电子工程学院 专业班级： 测控0904 指导教师： 韦 敏 完成日期： 2013 年3月 14 日 要 求 1、外文翻译是毕业设计（论文）的主要内容之一，必须学生独立完成。 2、外文翻译译文内容应与学生的专业或毕业设计（论文）内容相关，不得少于15000印刷符号。 3.外文翻译译文用A4纸打印。文章标题用3号宋体，章节标题用4号宋体，正文用小4号宋体，20磅行距；页边距上、下、左、右均为2.5cm，左侧装订，装订线0.5cm。按中文翻译在上，外文原文在下的顺序装订。 4、年月日等的填写，用阿拉伯数字书写，要符合《关于出版物上数字用法的试行规定》2005年2月26日”。 5、所有签名必须手写，不得打印。 文献名称自适应测试:处理过程可变性 文献名称Adaptive Testing:Dealing with Process Variability 作者：Peter Maxwel 起止页码：41-49 出版日期（期刊号）：2011年11月 出版单位：IEEE Design Test of Computers 本文描述了自适应测试在日益增长的需要和成本效益的IC动态测试和有差别地管理生产工艺变化中的应用发展。不同程度的提出了采用自适应处理的优势及例子。最后,对于它未来的发展做出了讨论。 对设计和测试而言一个最大的挑战因素就是过程的可变性。设备参数是由物理方法设备在生产过程中形成的。他们的行为是由大量的物理属性,包括尺寸,形状,取向,掺杂剂的水平。为了小减几何形图,它变得越来越难控制这些属性。例如,一个代表65纳米晶体管有栅氧化层的厚度1.3海里。鉴于一个二氧化硅分子约0.3 nm,氧化物厚度只包含四个或五个分子。一个分子的差异代表着20%的变化。这将转化改变阈值电压(VTH)、阈下的泄漏电流(IsubTH)和有功电流(IDS)。随机掺杂剂的波动可能导致相当大的延迟,而大小和位置引起显著的参数变化。 虽然果效差异的原因可以理解,对硅预测的结果是另一个重大的挑战。设计最坏的状况是不现实的,因为它会导致不能实现操作,以及过度区和功耗。解决这些问题已经有很多基于统计学的设计研究,无论大门水平和高度水平。然而,所有的变化和不确定性是不可控的,所以测试要求考虑周全。一个类似的争论在住宿的可变性是不足以允许传统的警卫带提供有用的部分。 试测的目的是为节省成本以及提高幕屏质量和可靠性,维护他们在一致的水平,同时限制不必要的产量损失。传统方法背景下它是非常难去做变化巨大的测试。为提高测试的性能,某种形式的适应是非常必要的。 传统测试与自适应测试比较 传统上,测试范围,内容和流静态设置,只有偶尔基于离线分析更新。时间尺度通常是每几个月之后,经过大量的数据收集和分析。根据沉降物,限制是可以调整的,移除无效的测试、改变测试顺序等等。 这使用种方法,所有零件采用同样的测试,不管每一部分零件的独自表现。这种方法当变化很小时比较满意,但当变化比较大时,要么由于过多数量导致失败要么过于严格的限制,或者有大量的测试没有进行,因为采用了宽松的限制来减少产量损失。 自适应测试,另一方面使用方法改变测试条件,流动,内容和范围基于制造测试数据和统计数据分析。粒度的变化是广泛的可能会被应用在subdie水平,在这种情况下,不同块的芯片上可以有测试响应的改变在其他块在另一个极端,检测后统计分析可以用来优化测试未来的产品。 图1：自适应测试流。共享数据库和离线分析系统的核心部分的自适应检测。 我们可以包括在自适应测试的过程的信息从内联和早期前馈检测后来测试步骤和反馈检测后的数据统计分析。例如,过度的后果在封装测试可能会引发更多严格的晶片测试。相反,比平时多晶片影响可能会引发更广泛的老化。前馈还可以被使用在一个测试步骤,比如当一个减少向量组用于获得一个估计的最低工作电压(minVDD)、这是美联储期待完整的向量组中使用的通过/失败标准。 这都是些一般概念的例子的数据分析,可以用来调整测试范围和内容在生产测试。分析可以发生在准确的时间(在平行与测试),靠近时间(最后的样品测试和结尾的晶片和很多测试)和离线。一般来说,离线分析可以用来优化测试流程,以及测试内容和测量例程。离线分析结合了数据从许多来源,包括历史数据收集、测试能力,所需的周转时间,有缺陷的零件的质量要求,和预期收益率和参数化。比起传统的测试,重点是大大缩短周期时间的任何修改,以减少直接输入的产品和测试工程人员。 图1显示了一个高级流程图的适应