武汉大学版仪器分析知识点总结(适用考中科院的同学).doc

第一部分：AES,AAS,AFS AES原子发射光谱法是根据待测元素的激发态原子所辐射的特征谱线的波长和强度，对元素进行定性和定量测定的分析方法。 特点： 1．灵敏度和准确度较高 2．选择性好，分析速度快 3．试样用量少，测定元素范围广 4．局限性 （1）样品的组成对分析结果的影响比较显著。因此，进行定量分析时，常常需要配制一套与试样组成相仿的标准样品，这就限制了该分析方法的灵敏度、准确度和分析速度等的提高。 (2）发射光谱法，一般只用于元素分析，而不能用来确定元素在样品中存在的化合物状态，更不能用来测定有机化合物的基团；对一些非金属，如惰性气体、卤素等元素几乎无法分析。 （3）仪器设备比较复杂、昂贵。 术语： 自吸 自蚀 ? 击穿电压：使电极间击穿而发生自持放 电的最小电压。 ? 自持放电：电极间的气体被击穿后，即使没有外界的电离作用，仍能继续保持电 离，使放电持续。 ? 燃烧电压：自持放电发生后，为了维持放电所必需的电压。 由激发态直接跃迁至基态所辐射的谱线称为共振线。由较低级的激发态（第一激发态）直接跃迁至基态的谱线称为第一共振线，一般也是元素的最灵敏线。当该元素在被测物质里降低到一定含量时，出现的最后一条谱线，这是最后线，也是最灵敏线。用来测量该元素的谱线称分析线。 仪器： 光源的作用: 蒸发、解离、原子化、激发、 跃迁。 光源的影响：检出限、精密度和准确度。 光源的类型： 直流电弧 交流电弧 电火花 电感耦合等离子体(ICP) 光源 蒸发温度 激发温度/K 放电稳定性 应用范围 定性分析，矿物、纯物质、直流电弧 高 4000～7000 较差 难挥发元素的定量分析 试样中低含量组分的定量分 交流电弧 中 4000～7000 较好 析 金属与合金、难激发元素的 火花 低 瞬间10000 好 定量分析 ICP 很高 6000～8000 最好 溶液的定量分析 ICP原理 当高频发生器接通电源后，高频电流I通过感应线圈产生交变磁场(绿色)。 开始时，管内为Ar气，不导电，需要用高压电火花触发，使气体电离后，在高频交流电场的作用下，带电粒子高速运动，碰撞，形成“雪崩”式放电，产生等离子体气流。在垂直于磁场方向将产生感应电流（涡电流，粉色），其电阻很小，电流很大(数百安)，产生高温。又将气体加热、电离，在管口形成稳定的等离子体焰炬。 ICP-AES法特点 1．具有好的检出限。溶液光谱分析一般列素检出限都有很低。 2．ICP稳定性好，精密度高，相对标准偏差约1%。 3．基体效应小。 4．光谱背景小。 5．准确度高，相对误差为1%，干扰少。 6．自吸效应小 进样： 溶液试样 气动雾化器 超声雾化器 超声雾化器：不连续的信号 气体试样可直接引入激发源进行分析。有些元素可以转变成其相应的挥发性化合物而采用气体发生进样（如氢化物发生法）。 例如砷、锑、铋、锗、锡、铅、硒和碲等元素。 固体试样 (1). 试样直接插入进样 (2). 电弧和火花熔融法 (3). 电热蒸发进样 (4). 激光熔融法 分光仪棱镜和光栅 检测器：目视法，摄谱法，光电法 干扰： 光谱干扰： 在发射光谱中最重要的光谱干扰是背景干扰。带状光谱、连续光谱以及光学系统的杂散光等，都会造成光谱的背景。 非光谱干扰： 非光谱干扰主要来源于试样组成对谱线强度的影响，这种影响与试样在光源中的蒸发和激发过程有关，亦被称为基体效应。 光源中未离解的分子所产生的带状光谱是传统光源背景的主要来源。 光源温度越低，未离解的分子就越多，背景就越强。 校准背景的基本原则是，谱线的表观强度I1+b减去背景强度Ib。常用的校准背景的方法有校准法和等效浓度法。 基体效应, 在实际工作中，常常向试样和标准样品中加入一些添加剂以减小基体效应，提高分析的准确度，这种添加剂有时也被用来提高分析的灵敏度。 添加剂主要有光谱缓冲剂和光谱载体。 ? 光谱缓冲剂：为了减少试样成分对弧焰温度的影响，使弧焰温度稳定，试样中加入 一种或几种辅助物质，用来抵偿试样组成变化的影响。 分析方法： 定性：铁光谱比较法，标准试样光谱比较法 半定量：常采用摄谱法中比较黑度法 定量：场致变宽：在外界电场或磁场的作用下，引起原子核外层电子能级分裂而使谱线变宽现象称为场致变宽。由于磁场作用引起谱线变宽，称为Zeeman (塞曼)变宽。 自吸变宽：光源空心阴极灯发射的共振线被灯? 特点：简单，火焰稳定，重现性好，精密度高，应用范围广。 ? 缺点：原子化效率低、只能液体进样 ? 石墨炉原子化法(GFAAS) ? 特点： ? 采用直接进样和程序升温方式，原子化温度曲线是一条具有峰值的曲线。 ? 可达3500℃高温，且升温速度快。 ? 绝对灵敏度高，一般元素的可达10-9~10-12 g。 ? 可分析70多种金属