膜zeta电位测试技术研究进展-分析化学.pdfVIP

第 35卷 分析化学 ( FENXIHUAXUE ) 评述与进展 第 4期 2007年 4月 Ch inese Journal of Analytical Chem istry 605~ 610 Zeta 1 * 1 2 2 1, 2 汪 锰 安全福 吴礼光 莫剑雄 高从堦 1 2 (浙江大学材料与化学工程学院, 杭州 310027) (国家海洋局杭州水处理研究开发中心, 杭州 310012) 分离膜荷 化显著地影响着膜的分离性能和耐污染能力。因此, 定量化表征膜表面 (包括孔表面) 性能具有重要的理论价值和实际意义。本文系统地综述了各种膜 Zeta 位测定原理、特点及其不足, 并展 望了膜 Zeta 位的未来研究方向。 荷 膜, Zeta 位, 流动 位, 评述 1 膜分离过程作为一门新型的分离、浓缩、提纯、和净化技术已经逐渐从实验室走向大规模工业化应 [ 1] 用 。大量实验结果都已表明: 分离膜的荷 化显著地影响着膜在使用过程中多方面的性能, 例如膜 [ 2 ~ 5] 的水通量, 截留率, 以及耐污染能力等等 。近二十年来, 针对如何量化表征膜的荷 性能一直是膜 学领域中的研究热点, 相关方法已经相继得到开发和使用。然而, 我国对于该课题的研究还不够深入。 本文在系统地总结和归纳该领域研究进展的基础上旨在引起国内学者的关注。 2 - 在液体膜分离过程中, 由于膜材料自身功能基团的解离或 /和某些特性吸附(包括溶液中离子的吸 附, 聚 解质的吸附, 离子型表面活性剂的吸附和荷 高分子的吸附等)而引发的膜表面 (包括孔道表 面)荷 化会导致膜与溶液相接触的固液界面处呈 现出与主体溶液中完全不同的 荷分布, 即双 层 [ 6] 结构 , 如图 1所示。溶液中的一些反离子在荷 膜表面较强的静 作用下会聚集为一层较致密的离 子层, 并相对静止地紧靠膜表面而存在; 伴随着向主 体溶液方向延伸, 该静 作用力逐渐减弱, 于是在紧 密层后存在着可以在外力作用下(例如压力、 场力 等)发生移动的反离子层, 即扩散层; 并且, 可将紧密 图 1 固液界面处的 荷分布 层与扩散层分界处称之为滑动面。通常, 紧密层很 F ig. 1 Schematic representation of the charge d istribution 薄(小于 1 nm ), 而扩散层相对较厚(根据溶液 性 at the solid/ li uid interface surface 能及其离子浓度的不同, 扩散层的厚度会在几纳米到几微米之间波动)。所以, 位于固液界面处的 位 很难通过实验直接测定, 而位于滑动面上的 位, 即 Zeta 位, 可以通过一系列 动学的方法予以直接 获得, 进而定量地反映膜的荷 状态。 3 Zeta 3. 1 ( stream ing potential) 在平行于滑动面的方向上施以压力差, 扩散层中的反离子会在该压力的驱动下发生定向移动, 形成 流动 流( stream ing current, I )。在低压侧得以积累的反离子随即产生一个新的反向 场, 并对应着 S 一个与流动 流方向相反的 导 流( Conduction Current, I )。当正反向 流趋于平衡时, 即I = I , C S C 2006-08-07收稿; 2006-11-04 接受 本文系国家自