基于BP神经网络和均值差分的TFT-LCD MURA缺陷检测方法.pdfVIP

基于BP神经网络和均值差分的TFT-LCD MURA缺陷检测方法.pdf

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第3O卷 第 1期 湖南理工学院学报(自然科学版) V0l-30NO.1 2017年3月 JournalofHunanInstituteofScience andTechnology(NaturalSciences) M 111.2017 — — — — 基于BP神经网络和均值差分的 TFT—LCDMURA缺陷检测方法 曾 毅,郭龙源,罗百通 (湖南理工学院 信息与通信工程学院,湖南 岳阳 414006) 摘 要:TFT-LCDMURA~:陷具有背景整体亮度不均、灰度变化不明显等特点,用基于机器视觉的方法bkTFT-LCD图 像 中分割出缺陷是非常困难的.本文提出一种新的MURA~陷检测方法,首先在分析TFT-LCD~]像中背景与MURA~:陷灰 度值差异的基础上,采用均值滤波和背景差分法来抑制背景杂波,然后采用灰度约束获取疑似MURA缺陷区域,最后提取 疑似区域灰度特征并将其放入训练后的BP神经网络提取缺陷 目标.结果显示,本文方法正确检测概率为98.1%,误检率为 1.4%,平均检测时间为0.33秒.仿真实验结果表明,本文提出的方法对MURA缺陷的检测非常有效,且算法简单,实时性高, 易于实现. 关键词:机器视觉:BP神经网络:TFT-LCD;MURA;缺陷检测 中图分类号:TP394.1;TH691.9 文献标识码:A 文章编号:1672.5298(2017)01—0032—07 TFT_LCD M URA DefectDetectionM ethod BasedonBPNeuralNetworkandtheM eanDifference ZENG Yi,GUO Longyuan,LUO Baitong (CollegeofInformationandCommunicationEngineering,HunanInstituteofScienceandTechnology,Yueyang414006,China) Abstract:TFT-LCD MURAdefectshavethebackgroundoverallbrightnessunevennessandgradationchangesignificantly.It isverydi衔cultthatsegmentationdefectsfrom TFT_LCD basedonmachinevisionmethod.ThisPaDerproposesanew methodfor detection0fMURA defects.Firstly,usingmena filteringna dbackrgound differenttosuppressbackrgound clutter,htisPaDer analyzesrgayvaluedifferencesonhtebasisofhteTFT-LCD imagebackrgoundandMURAdefect.Thenweusehtergayconstraint togetasuspectedMURAdefectregion.Finally,extractrgadationcharacteristiesrfom suspectedregionintohtetrainedBPneural networktoextractdefecttarget.ExperimentalresultsindicatethatcorrectdetectionprobabilityiS98.1%.falsepositiverateiS1.4%. theaveragedetectiontimeis0.23seconds.Simulationresultsshow thattheproposedmethodforhtedetectionofdefectsMIJRAi

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