X射线荧光光谱法测定混合稀土氧化物中稀土分量_黄肇敏.pdf

第 2 7 卷 , 第9 期 　 　　　　　　　　　　　光 谱 学 与 光 谱 分 析 Vol27 ,No9 ,pp 2 0 0 7 年 9 月 　　　　　　　　　　　 　Sp ect ro scop y and Sp ect ral Analy si s Sep t ember , 2007 　 X 射线荧光光谱法测定混合稀土氧化物中稀土分量 1 2 黄肇敏 , 周素莲 1. 广西冶金产品质量监督检验站 , 广西 南宁　530023 2 . 桂林工学院材料与化学工程系 , 广西 桂林 　54 1004 摘 　要 　建立了 X 射线荧光光谱法测试稀土氧化物中稀土分量的方法 , 讨论了样品制作方法 , 提出用聚四 μ 氟乙烯制作样品底座 , 分析试液 1 mL 滴入样品底座的吸附滤纸上 , 烘箱或红外灯下烘干 , 6 m 聚脂薄膜扣 住测量 , 样品底座不吸附试样 , 吸附滤纸的位置及平整性由于内标的补偿不影响分析结果的准确性 , 初步探 讨了薄试样的基体效应 , 测试的稀土含量范围为 : L a O 00 1 %～50 % , CeO 00 1 %～15 % , Pr O 00 1 % 2 3 2 6 11 ～125 % , N d O 00 1 %～40 % , Sm O 00 1 %～40 % , Eu O 00 1 %～10 % , Gd O 003 %～40 % , Tb O 2 3 2 3 2 3 2 3 4 7 00 1 %～5 % , Dy O 005 % ～10 % , Ho O 00 1 %～45 % , Er O 00 1 %～8 % , Tm O 00 1 % ～2 % , 2 3 2 3 2 3 2 3 Yb O 00 1 %～8 % , L u O 00 1 %～15 % , Y O 05 %～80 % , 测试结果与外检吻合 。方法易于操作 , 重 2 3 2 3 2 3 现性好 , 适应范围广 , 测试了大量其他物料成分 , 可满足定量分析要求 , 已作为常规分析手段 。 关键词 　X 射线荧光光谱法 ; 稀土 ; 制样方法 ; 滤纸吸附 中图分类号 : O6573 　　文献标识码 : A 　　　文章编号 : (2007) 引　言 1 　实验部分 　　中国是稀土资源大国 , X 射线荧光光谱法 , 由于谱线简 11 　仪器及工作条件 单 , 一直是分析稀土元素的重要手段之一[