水泥中三氧化硫X射线荧光分析仪的研制和应用.docVIP

水泥中三氧化硫X射线荧光分析仪的研制及应用 中国建筑材料科学研究院 刘玉兵 赵鹰立 摘要：分析X射线荧光分析的基本原理，研制了成本与同位素钙分析仪相当的简易X射线荧光分析仪。在实际应用中，分析时间大为减少，并消除了人为因素的影响，提高了分析精度，进一步提高水泥中三氧化硫的均匀性及水泥凝结性能和力学性能的稳定性。 关键词：X射线荧光分析仪；控制分析；实际控制 在各品种水泥产品标准中，三氧化硫都是重要品质指标，也是粉磨水泥时的重要质量控制指标。准确、快速地对水泥中三氧化硫进行测定是水泥化学工作者长期关注的课题。 三氧化硫的经典测定方法是硫酸钡重量法。2003年国家标准GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》正式发布实施后，利用X射线荧光仪进行水泥三氧化硫控制分析和质检分析开始在水泥厂得到应用，并获得了良好的效果。由于我国水泥厂生产规模普遍偏小，目前对大型X射线荧光仪的配置率极低，还不足百分之一。因此，研制具有测定三氧化硫的功能，而仪器成本又与同位素钙铁分析仪相当的简易X射线荧光分析仪，对于提高我国水泥三氧化硫检测水平、促进水泥质量的提高和稳定具有积极意义。 1 X射线荧光分析基本原理 荧光X射线完全是一种特征X射线，所谓“荧光”是借用“光致发光”之意，在其发生过程中，原子的内层电子空位是由一次X射线的辐照激发引起的，所以，它亦被称为二次X射线。在选定的仪器测量条件下，均匀样品中某元素的荧光X射线强度是样品中该元素浓度的函数： Ii =QiCi/Us （1） 式中：Ii --待测元素的荧光X射线强度； Us --样品的质量吸收系数； Ci--待测元素的浓度； Qi--比例常数。 如果预先确定这种关系，例如绘制校准曲线，就可以通过测定强度进行定量分析。 X射线荧光分析仪就是激发和测量元素?的荧光X射线的装置。通常由激发、色散、探测和测量等四部分组成。激发部分的作用将样品中各种元素原子的内层电子用初级X射线逐出，从而产生原子的内层电子空位，外层电子跃迁至空位，进而产生次级X射线（荧光X射线）。对于采用能量色散的能谱仪，荧光X射线到达探测器过程中的损失较小，因而一般采用小功率X光管或放射性同位素作为激发源。色散部分的作用就是将样品发出的混合荧光X射线逐一分开。根据荧光X射线光子能量的不同，利用波高分析器将其分离以实现分别测量的方法，称为能量色散，对应的仪器称为能谱仪。探测部分的作用是把能量色散后待测元素的荧光X射线转变为电信号、可见光或其它可探测的信号。正比计数器是将X射线光子转化为气体离子对进而输出电流脉冲的探测器，每一个电流脉冲对应一个X射线光子，脉冲的高度正比于光子的能量，脉冲的数量正比于光子的数量。半导体探测器是将X射线光子转化为电子-空穴对，光子的能量越高，产生的电子-空穴对就越多；这就为半导体探测器的输出脉冲高度与X射线光子能量间的正比关系提供了依据。半导体探测器对输出脉冲的分辨率较高，因而特别适宜作为能谱仪的探测器。测量部分的作用是测量和记录由探测器输出的脉冲数。 2 仪器结构及工作原理 水泥三氧化硫X射线荧光分析仪实质上是一种能谱仪，仪器的结构见图2-1。样品压片成型后，放置于样品测量位置。X射线管发出初级X射线激发样品，使样品中吸收限波长大于X光管短波限波长的元素产生各自的特征X射线（荧光X射线）。这些特征X射线进入探测器产生脉冲信号，经过前置放大器送入脉冲放大器，经脉冲放大器的放大与脉冲整形，送入信号处理器。信号处理电路对成形的脉冲进行波高分析处理，将待测元素的脉冲模拟信号转换成数字量，送入计算机接口，计算机软件通过控制接口电路进行谱数据的采集与控制，最终完成对硫特征X射线强度的计算与分析，进而计算出样品中三氧化硫的质量分数。 图2-1 仪器结构示意图 3 仪器主要部件的设计 3.1 X光管 作为硫元素的专用激发源，在X光管的设计思路上主要考虑了对硫元素的选择性激发。水泥样品中的主要化学成分为硅、铁、铝、钙、镁和硫等，其中钙和铁的氧化物含量一般可达到60%～70%。选择适当的激发电压可以对硫进行高效激发而不对钙和铁元素进行激发，对硅、铝和镁的激发效率也不很高。根据X射线光谱理论，当使用连续X射线激发样品时，连续谱线的有效波长为其为短波限的1.5倍，而有效波长略小于某元素的吸收限时，对该元素的激发效率最高。连续X射线谱线的短波限与X光管激发电压的关系可用杜安(Duane)-亨脱(Hunt)定律表示： λ＝1.2396/V （2） 式中：λ－－连续X射线谱线的短波限，nm； V－－X光管激发电压，kV。 硫元素的吸收限波长为0.5018nm，由式（2）可