TEM穿透式电子显微镜学实习报告.DOC

TEM穿透式電子顯微鏡學實習報告 Basic Operation and Analysis of Au nanoparticles. 授課老師：王聖璋 學生姓名：李讚修 班級：碩研奈米一甲 學號：MA21V104 前言 : TEM適用於分析金屬、陶瓷、半導體電、生醫、高分子子材料等。以場發射200KV高能量電子穿透試片，具穿透及掃描功能，可觀察物體之形貌、分析材料內部之微細組織、缺陷及晶體結構。能同時提供高解像分析、微電子束繞射分析、EDS微區域化學成份分析、化學元素分析功能，可作高角度多方位繞射分析及高品質之明、暗視野影像，是分析材料微觀結構中不可或缺的工具。 實驗流程：Sample on double-tilting holder. Alignment of TEM for basic observation. Taking one picture in bright-field (BF) mode condition with the proper magnifications with OBJ aperture and without OBJ aperture. Turn to diffraction mode to get one zone pattern of the Au. Taking one picture of the DP. Turn to diffraction mode to select one diffraction spot by OBJ aperture and take one dark field. Tiling the DP to center dark field, and turn to the image mode to take one picture of CDF. Decrease the spot size,get a convergence beam electron diffraction. 結果與討論︰ 2. Present the JCPDS file of the Au , index the diffraction pattern. 量出R1︰R2︰R3︰R4︰R5＝2.1︰2.3︰3.3︰4.1︰4.3 半徑比為1︰1.155︰1.633︰1.915︰2 故為FCC面心立方結構 由Au的JCPDS file比較h k l 可看出的確為FCC的結構 公式Rd＝λL λ＝0.025 ? L＝200m R1＝2.1 2.1×d＝0.025200 d=2.358 ? R2＝2.3 2.3 × d＝0.025200 d=2.174 ? R3＝3.3 3.3 × d＝0.025200 d=1.151 ? R4＝4.1 4.1 × d＝0.025200 d=1.219 ? R5＝4.3 4.3 × d＝0.025200 d=1.163 ? 3. Compare the image conditions of bright field , dark field and center-dark field conditions 圖1 no OBJ bright field 圖 OBJ bright field 圖3 Dark field ( DF ) 圖4.Center-dark field ( CDF ) 圖1為無物鏡的明視野圖與圖2加了物鏡的明視野圖比較，可以發現加了物鏡之後，影像更加清晰，影像的對比也較為明顯。 圖2為明視野（BF），通常用於一般的觀察，使用物鏡孔徑擋住繞射電子束，只讓直射電子束通過，明視野影像中重元素會呈現黑色，而輕元素會呈現白色。 圖3為暗視野（DF），用於某特定繞射晶面或缺陷觀察，暗視野影像與明視野影像相反是使用物鏡孔徑來遮擋直射電子束的通過，只讓繞射電子束通過，明視野影像中重元素會呈現白色，而輕元素會呈現黑色。 圖4為中心暗視野（CDF），此影像與暗視野影像不同的是它不會使用物鏡孔徑遮擋直射電子束而是偏移一個角度，然後繞射影像直接通過物鏡孔徑，形成影像，圖3（DF）跟圖4（CDF）比較，DF較為清晰也較亮。 （BF）（DF）（CDF）Indexing the ring pattern of every rings and the d spacing of the planes, compare the d values with the theoretical v