【2017年整理】扩展OSL方法校准微波双口测试夹具.pdfVIP

下载本文档

5
0
约2.84万字
约 4页
2017-12-20 发布于浙江
举报
版权申诉

【2017年整理】扩展OSL方法校准微波双口测试夹具.pdf

1、本文档共4页，可阅读全部内容。
2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

【2017年整理】扩展OSL方法校准微波双口测试夹具

第11期电子学报 Voi.30 No.11 年月 2002 11 ACTA ELECTRONICA SINICA Nov. 2002 扩展 OSL 方法校准微波双口测试夹具陈振宇，王幼林，祝宁华（中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室，北京 100083）摘要：常规的（）校准方法具有简便易行的特点，被广泛应用于单端口测量的测试夹具的校 OSL open-short-ioad 准在本文中，方法被首次扩展应用于双端口夹具的校准，并消除该方法带来的相位不确定问题通过实验证明这 . OSL . 种方法与（）方法同样精确 SOLT short-open-ioad-thru . 关键词：校准；微波网络分析仪；散射参数测量；相位不确定性中图分类号：文献标识码：文章编号：（） TN707 A 0372-2112 2002 11-1711-04 The Extended OSL Method for Calibrating the Tow-port Microwave Test Fixtures ，， CHEN Zhen-yu WANG You-iin ZHU Ning-hua （，，，，） State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics Institute of Semiconductors CAS Beij ing 100083 China ：（）， Abstract The open-short-ioad OSL method is very simpie and wideiy used for one-port test fixture caiibration.In this paper this method is extended to the caiibration of two-port test fixtures for the first time.The probiem of phase uncertainty arising in this ap- （） piication has been soived.The comparison between our resuits and those obtained with the