X射线衍射和应用简介.pptVIP

X射线粉末衍射与应用 *单晶体衍射获得的是衍射 点，数量多(数千至数十 万) 。 *用于晶体结构测定，单晶体定向或缺陷形貌测定。 *粉末衍射为晶体粉末的集 体衍射现象。 *粉末衍射获得的是衍射圆锥(环)，数量少(数十) 。 单晶体衍射与粉末(多晶体衍射)衍射 Bragg-Brenteno衍射仪 准聚焦几何，平板状样品 散射狭缝 接收狭缝 粉末衍射仪及粉末衍射谱 从衍射谱上可得到的实验物理量为 衍射峰的位置、强度、峰形（峰宽） 粉末衍射图与实验物理量 X射线粉末衍射的主要用途 主要用于三个不同层次的结构测定。 (1). 多晶聚集体结构：多晶体材料中晶粒群体间的关系。 (2). 晶体结构与分子结构：一个晶胞的结构，其尺寸与对称性；晶胞内各原子的位置坐标；分子内各原子间的关系。分子结构同时被测定。 (3). 晶体内的微结构：晶体内部破坏周期性的各种缺陷，如微应变、反相畴、各种位错、层错、膜厚波动、界面粗糙度等。 (1). 多晶聚集体结构的表征 1). 物相结构的分析(定性、定量) 2). 晶粒平均尺寸及粒度分布的测定 3). 择优取向和织构的测定 1). 物相结构分析 构成材料的不同化合物的分析或同一化合物的不同晶型或异构体的分析。 物相构成与此材料的性能密切有关，是正确使用此材料的重要基础。 □ （a）粉末衍射谱是物质的特征，独一无二。 （b）在混合物中每一个物质产生的衍射谱与其它物质无关，有指纹性。 （c）各组分衍射谱的强度是正比于各组分的含量的，混合物的粉末衍射谱是各组成物相的粉末衍射谱的权重叠加。 (a)、(b)、为定性基础，(c)为定量基础 ● 物相定性分析方法：标准谱对比法 Hull指出（1919）： 碎屑岩物相定性(扫描总时间:4分钟) 测量谱 计算谱 碎屑岩物相定量(Rietveld) 晶粒越小衍射线形就越宽 晶粒大小与衍射线宽的关系——谢乐公式 ? = K? / D cos? 2).平均晶粒尺寸与粒度分布的测定 * D为衍射的反射晶面法线方向的晶粒厚度，是各晶粒D的平均值，测量上限约为200nm *用不同(HKL)衍射求得的DHKL是不同的,可估形状 *?为衍射线宽度，单位为弧度 * K为一常数，β为半高宽时，K =0.89 实际衍射线形是多种因素影响的卷积 光源色散，仪器因素，样品结构因素 必需先对实测线形进行反卷积分去实验因素及其它各种结构因素造成的线宽，提取出纯的由待求因素造成的线宽，才能运用有关公式进行计算. a).择优取向现象 多晶聚集体中晶粒取向的相对集中现象称为择优取向， b).择优取向的影响 使均匀的材料成为各向异性。这在一些情况下是不利于材料的使用的，而在有些情况下又是必需的。 3).择优取向及织构 c).择优取向材料的衍射特点 择优取向使粉末试样的衍射强度分布不均匀，与无择优取向时不同，这种分布状况形成的构造就称织构。可从衍射线强度的变化得出其织构。 (2). 晶体结构与分子结构的测定 ◎任务：测定一个晶胞的结构，即测定晶胞参数(a，b，c，α，β，γ)与晶胞中各原子的位置坐标(xi，yi，zi)。分子结构是同时被测定的。 第一步：求解晶体结构的周期性及对称性，也即要正确求出晶体的晶胞参数、推断其可能的点群和空间群。由分析各衍射的θi间的关系得到。 2dsinθ=nλ 对出现的各衍射的H、K、L的规律的统计总结出消光规律，从此推断可能的空间群。 第二步：求出各原子在晶胞中的位置坐标，占有率及温度因子等参数。 通过对各衍射的积分强度IHKL的分析求得的。 ◎方法：Rietveld粉末衍射全谱拟合法。 需要大量的FHKL才能得到高分辨的ρ(xyz)。 粉末衍射只可得几十条衍射线，故长期不能用来解晶体结构。 Rietveld全谱拟合法可做晶体结构精修，还可分解重叠的衍射峰增加F的数量，使粉末衍射进行从头晶体结构测定成为可能。 全谱拟合：从理论上计算一整个衍射谱，反复改变计算中的一些参数(结构参数与峰形参数)，使计算谱接近实测谱的过程。 [Co(NH3)5Cl]Cl2的晶体结构测定 [Co(NH3)5Cl]Cl2的原子坐标及温度因子 测量精修条件和R值 Atom x y z B(?2) Co 0.8949(2) 0.2500 0.6825(4) 1.7(2) Cl(1) 0.6465(2) 0.0018(4) 0.6574(3) 2.4(2) Cl(2) 1.0238(4) 0.2500 0.4659(8) 4.1(2) N(1) 0.9919(9) 0.2500 0.917(2) 0.3(2) N(2) 0.7968(7) 0.