专利侵害鉴定基准.doc

專利侵害鑑定基準專利侵害鑑定專利侵害鑑定基準第十一章　鑑定比對、作業流程及報告撰寫第一節　比對及作業流程 一、基本準則 　　辦理專利鑑定，首先需研究且明瞭待鑑定樣品之技術內容，並依下列的判斷原則，以解釋專利案之申請專利範圍所主張的技術內容範圍( 主要為獨立項 )： (一) 關於認識限度之原則 　　解釋專利案之申請專利範圍其技術範圍，原則上對非為發明創作事項係不予專利，即不得超過申所能認識之發明創作限度。技術範圍則應以熟習該項技術者依專利說明書、圖式而作為判斷，若依據此資料仍無法明瞭時，應再參酌專利案卷宗資補充判斷。 (二) 關於作用效果之原則 1. 技術範圍基於申請專利範圍(claim) 作解釋時，待鑑定樣品之技術內容，雖落入於其專利案之申請專利範圍內，惟實質上未能達成如其所載之特殊作用效果者，則應不屬於該專利案之技術範圍內。 ?2. 專利說明書所載之作用效果，理論上雖可行，但依其說明之構造或組成，並無法達成其所主張之效果者，則不屬於該專利案之技術範圍。 3. 不得僅以待鑑定樣品在技術之作用效果上，與專利案係為同一，就認定其屬於專利案之技術範圍內。 4. 專利案之作用效果，如經載明於請求項中，即應屬專利案之構成要件，不具備此構成要件者，原則不屬於專利案之技術範圍內。 (三) 關於以「吉普森式請求項」(Jepson Type Claim)表達之改良形專利案之原則。 　　「吉普森式請求項」之形式，係將習知部分或舊有成分於前言中敘述，以揭示本專利案完成所必要之習知技術，然後於請求主體中敘述新的或改良徵部分者。 　　一般以「一種……（專利標的），係由……構（組成），……，其特徵在於……」方式書寫。吉普森式請求項前言所載事項，一般雖屬於公知事位概念，但既已載於請求項中，而構成專利範圍前言部分或限制條件，則不論其為公知事項成本專利案要旨之一部分，併同特徵部分成為請求項技術範圍之判斷依據。 　　然後再將待鑑定樣品及專利案之申請專利範圍之技術內容，解析成若干必要技術構成後，並參酌下列規範之方式，而逐一進行異同比較： (一) 專利標的為物品時，應就申請專利範圍所述之形狀與所送物品做比較；但若所送物品無法檢視結構，或雖可拆解，但會遭不可回復壞，應先主動告知此事實後再辦理之，若是所僅為部分組件，則應請提供完整之物品後，再作比較。 (二) 專利標的為組成物，應就申請專利範圍所述之成份及比例與所送組成物證據做比較。 (三) 專利標的為方法時，應就申請專利範圍所述之步驟、順序與所送證據或現場實施的方法做比較；唯若是專利，而證物為產品，或者所送之書面證據欠缺具體技術內容，可認為所送物品或證據與專利標的無法比較。 　　因經由分析比較後，待鑑定樣品相對於專利案之申請專利範圍之技術範圍，則會有以下所列舉之結論情形： (一) 必要技術構成完全相同──與申請專利範圍相同 　　即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成發生有待鑑定樣品的技術構成，係均為專利案之申請專利範圍其要求保護的全部必要技術特徵蓋者。 (二) 增加一項以上其他技術構成──與申請專利範圍相同 　　即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成相比，發生有待鑑定樣品的技術構成，係包含了專利案之申請專利範圍的全部必要技術特徵外，尚增加的技術特徵者。 (三) 部分必要技術構成不相同，但不相同部分屬於等效之替代──與申請專利範圍相同 　　即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成相比，就構成而言，雖然在技術構成之數量上兩者係相等，唯其中之技術構成是有不相同之情形。經比較分析後，認定待鑑定樣品與專利案所不同之技對熟習該項技術者而言，僅係屬於等效手段替代者。 (四) 缺少申請專利範圍中的非必要技術構成──與申請專利範圍相同 　　即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成相比，雖然缺少專利案之申請專利範圍中的部分必要構成，但此缺少的技術構成部分，實際上對熟習該項技術者而言，係屬於無實質意義之技術特徵者。 (五) 缺少一個或一個以上必要技術構成──與申請專利範圍不相同 　　即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成係缺少專利案之申請專利範圍中的一個或一個以上必要技術構成，因為專利案之申請專利範圍係不可分割的，故專利案之申請專利範圍中之所有技術構成，係屬於未被利用者。 (六) 有一個或一個以上必要技術構成不相同──與申請專利範圍不相同 　　即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成相比，由於在其必要技術構成上，係有一項以上不相同，且對熟習該項技術者而言，亦不屬於等效物者。 二、鑑定侵害判斷之流程 流程圖說明： 1. 全要件原則（ALL ELEMENT RULE） 　　分析專利權之申請專利範圍其所有構成要件及被告對象之所有構成要件並逐一加以比較。若待鑑定樣品具有申請專利