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数字全息成像技术测量侧边抛磨光纤包层剩余厚度-微纳光电子信息与.pdf

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    第卷第期应用光学年月文章编号数字全息成像技术测量侧边抛磨光纤包层剩余厚度汪峰马杰陈哲钟金钢余健辉钟永春暨南大学光电工程系广东广州暨南大学光电信息与传感技术广东普通高校重点实验室广东广州摘要测量侧边抛磨光纤的包层剩余厚度对其应用有重要的指导意义现今的测量方法均有所不足现提出一种基于数字全息技术的测量方法利用单模光纤纤芯折射率比包层折射率高的特点基于数字全息成像技术通过角谱传播法对二维全息图进行相位重构并通过精确最小二乘法解相位包裹得到侧边抛磨光纤的相位分布图根据重构的相位分布图进一步运用相关的边缘

    第 卷第 期 应 用 光 学 ３６ ４ Ｖｏｌ．３６Ｎｏ．４ 　 　 　 年 月 ２０１５ ７ ＪｏｕｒｎａｌｏｆＡ ｌｉｅｄＯ ｔｉｃｓ Ｊｕｌ．２０１５ 　 　 ｐｐ

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