材料测试分析技术(绪论+xrd)-04.pptVIP

5、粉末多晶体的衍射强度 影响衍射强度的其它因素 重复因数 ：晶体中各(HKL)面的等同晶面(组)的数目称为各自的多重性因子(PHKL)。 PHKL值越大，即参与(HKL)衍射的等同晶面数越多，则对(HKL)衍射强度的贡献越大。 以立方晶系为例，(100)面共有6组等同晶面，故P100=6；(111)面有8组等同晶面，则P111=8。 吸收因子：设无吸收时，A(?)＝1；吸收越多，衍射强度衰减程度越大，则A(?)越小。 温度因子 ：热振动随温度升高而加剧。在衍射强度公式中引入温度因子以校正温度(热振动)对衍射强度的影响。 实验条件：单色X射线、转轴单晶样品 粉末法的样品：由细小的多晶质物质组成。理想的情况下，在样品中有无数个小晶粒，且各个晶粒的方向是随机的，无规则的。或者说，各种取向的晶粒都有。 照相法就是用底片来记录衍线射。它是早期粉末法X射线分析的主要方法。照相法中最常用的是德拜法。 德拜法照相装置称德拜相机 衍射花样的测量和计算 X射线衍射仪是广泛使用的X射线衍射装置。1913年布拉格父子设计的X射线衍射装置是衍射仪的早期雏形。 衍射仪测量具有方便、快速、准确等优点。 近年由于衍射仪与电子计算机的结合，使从操作、测量到数据处理已大体上实现了自动化。这使衍射仪在各主要领域中取代了照相法。 X射线(多晶体)衍射仪是以特征X射线照射多晶体样品，并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置。 由X射线发生器、测角仪、X射线探测器、记录单元或自动控制单元等部分组成，现代X射线衍射仪还包括控制操作和运行软件的计算机系统。 衍射仪法特点：仪器测量精度高、数据分析处理能力强 X射线衍射仪与照相法的记录方式及相应获得的衍射花样[强度(I)对位置(2?)的分布(I－2?曲线)]不同。 3、衍射数据的测量　 强度分布图上，每一条衍射线都表现为一个高出背景的衍射峰。它一般具有一定的宽度且两边往往不对称或不完全对称。 1、衍射峰2θ角的测量 测定它们的2θ位置可有多种方法： A、峰顶法： B、交点法： C、中点法： 2、衍射强度的测量 绝对强度：由定标器所测得的计数率，单位为cps，即每秒多少个计数。相对强度：以最强峰的强度作为100，然后与其他各个衍射峰进行对比计算。 衍射峰强度的测量方法有各种不同方法： A、峰高强度：以减去背景后的峰顶高度代表整个衍射峰的强度。在一般的物相定性分析工作中，多采用峰高强度。 B、积分强度：也称累积强度。它是以整个衍射峰在背景线以上部分的面积作为峰的强度。 * * 4、一个小晶体对X射线的散射- 干涉函数 一个小晶体可以看成由晶胞在三维空间周期重复排列而成。 晶体的散射强度： 称干涉函数或形状因子 干涉函数决定了衍射峰的形状！！ 参与衍射的晶胞数越多，衍射峰的形状越尖锐 理论证明，对粉末样品中晶体某hkl反射的累计强度表达式为： 式中：I0为入射X射线强度；?为波长；R为德拜(P.J. Debye)相机或衍射仪测角仪半径；e、m为电子的电荷及质量；c 为光速； V为样品被照射的体积；V0为晶胞体积； Phkl为hkl反射面的多重性因子； ｜FHKL｜2为HKL衍射结构因子；?(?) 角因子；A(?)为吸收因子；e-2M为温度因子。 §4 X射线衍射方法 单晶:基本由同一空间点阵所贯穿形成的晶块. 多晶:由许多很小的单晶体按不同取向聚集而成的晶块. 粉末照相法 粉末衍射仪法 单晶体衍射方法 照相法 四圆衍射仪法 多晶体衍射方法 劳厄法 转晶法 魏森堡法…… 一、 单晶衍射法简介 单晶体X射线衍射分析的基本方法为劳厄法与周转晶体法。 劳厄法：续X射线 转动晶体 转晶法：单色X射线 转动晶体 四圆衍射仪 是近年来在综合衍射仪法与转晶法基础上发展起来的单晶体衍射方法 1、劳埃法 实验条件：连续X射线射、单晶样品 （1）劳厄法分类 （2）劳厄斑点的成因 衍射圆锥：同一晶带的各晶面的反射线，位于以晶带轴为轴，以入射线与晶带轴的夹角α为半顶角的一个圆锥上的。 衍射圆锥与底片相交形成劳厄斑点 劳厄斑点的位置：θ—r—D r （3）劳厄斑点的分布特征 透射劳厄图：斑点分布呈一系列通过底片中心的 椭圆或双曲线。 背射劳厄图：斑点分布呈一系列双曲线和直线。 （4）劳厄图的对称性 当入射X射线的方向与晶体中的N此对称轴一致、平行或垂直时，所摄取的劳厄图也会出现相应的N次旋转对称性。 对于没有对称中心的晶体而言，劳厄图反应的对称性高于实际晶体的对称性。 所有晶体的劳厄图均具有对称性 （5）劳厄法的应用 ①主要测定晶体的取向：--θ ②观测晶体的对称性 ③粗略观测晶体的完整性。 完整性良好---