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云计算测量白皮书 暨20GHz 以上数字系统测量要点和方案 安捷伦科技（中国）有限公司：孙灯亮 前言 云计算是后IT 时代推动力量之一。 云计算系统对数据带宽要求非常巨大，使得整个数字系统的单根信号速率突破20Gbps， 甚至达到28Gbps 的超高数量级。超过20GHz 的数字系统，对各种电路和信号的要求达到了 异常苛刻的境界，电路和信号的测量成为必不可少的研发环节。表/ 图1 列出了关键的测量 内容和需要使用的相应的测试仪器。 表/图1. 20GHz 以上数字系统关键测试内容和相应的测试仪器 下面按测试内容展开介绍具体测试要求和要点，测量方法，以及专业仪器的核心指标或 原理，以供产品经理，技术专家，或工程师参考。 20GHz 以上高速背板测量 对于用于云计算的电信设备，数据通信设备，服务器矩阵等，高速背板是关键的互连部 件。高速背板里面需要走几十对到几千对高速差分线，现在典型的信号速率是 6.25Gbps， 10.3125Gbps，随着云计算对数据带宽的要求，需要信号速率突破20Gbps，甚至达到28Gbps 。 高速背板设计成为云计算设备开发的重点和难点之一。图2 是一个典型的高速背板样品，两 边简单单板是用于高速背板性能测试的测试夹具。测试夹具与背板接触部分是高速连接器， 通过特制的SMA/3.5mm/2.4mm 等同轴连接器与仪器仪表连接。 图2. 典型的高速背板样品 衡量高速背板的主要性能参数如下表/ 图3 所示。 表/图3. 高速背板典型性能参数 测量3.125Gbps 以上的高速背板，主要通过高性能矢量网络分析仪来实现。N52XX 是典 型的高性能网络分析仪，表/ 图4 列举了N5245A 网络分析仪的性能参数。 表/图4. N5245A 网络分析仪典型性能参数 对于高速背板测试来说，最难最复杂的是校准。但是，必须通过校准把测试电缆，测试 夹具等的误差去掉，才能真正得出高速背板的性能参数，才能确定高速背板是否满足规范或 设计要求，才能把测试得到的S 参数作为模型以供仿真软件使用。为此，配合网络分析仪硬 件使用的物理层测试系统PLTS 软件，帮助我们解决了这个题。 PLTS 软件不仅仅从时域，频域等多角度测试高速背板的性能参数，还能够建立自动测试流 程，快速验证测试结果是否满足规范或设计要求，同时生成测试报告。 除此外，PLTS 还支持各种校准技术，以进行精确和快速的校准，这是 PLTS 软件的关键 价值之一。这些校准技术如图5 所示。最简单的校准技术是端口延伸（Port Extension）和时 域门（Time Domain Gating) ，次之是归一化（Normalization）和参考面校准（Reference Plane Calibration ），但是这些校准技术不适合测试高速背板。由于高速背板是非同轴的环境，适合 的校准方法主要有三种：TRL ，去嵌入，AFR （自动夹具移除）。采用去嵌入的方法需要提供 夹具的S 参数文件，这些S 参数文件可通过仿真或测试获得，但是测试不容易处理，需要探 针台，代价太高昂，所以一般通过仿真的方式提取测试夹具的S 参数共去嵌入使用，这样做 难以保证精度。 所以最常用的校准方法还是TRL 和AFR 。 图5. PLTS 软件支持的校准技术 采用TRL 校准技术的难点是设计校准件。为此，PLTS 软件能够提供了TRL 校准件设计指 南。这个设计指南提供一步步详细的指引，帮助用户详细设计TRL 校准夹具，并且当用户的 TRL 校准夹具制造后，验证制造的夹具是否满足要求。 TRL 校准件采用的是松耦合的差分传输线，如果考虑紧耦合，需要移除测试夹具的两根 差分线内的串扰，在以前是一件非常困难的事情。PLTS 软件中的差分串扰校准指南能帮助 用户一步步移除两根线间耦合所导致的测量误差。 PLTS 软件最大的校准技术突破是创新了一种自动夹具移除 AFR 校准方法，不仅仅校准 件设计简单，校准处理方便，而且校准精度非常高。只要把两个夹具对接一下，即可把夹具 的影响