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光电子器件实验指导书 南京理工大学 实验一 光电探测器响应时间的测试 1 实验目的 1.1 了解光电探测器的响应不仅与信号光的波长有关，而且与光信号的调制 频率有关。 1.2 掌握发光二极管的电流调制法。 1.3 熟悉测量探测器的响应时间。 2 实验内容 ⒉⒈ 利用探测器的幅频特性确定其频率响应。 ⒉⒉ 利用探测器的脉冲响应特性测量响应时间。 3 基本原理 光电二极管、三极管和光电池属于光伏型光电检测器件，它们都是利 用物质的光电效应把光信号转换成电信号的器件。光电检测器件输入输出 量及各性能参数均与入射辐射的波长相关，即光谱特性。 3.1 频率响应 由于光电探测器信号的产生和消失存在着一个滞后过程，所以入射光 辐射对光电器件的响应将会有较大的影响。且其响应度不仅与入射辐射的 波长有关，而且与入射辐射的调制频率有关。光电器件的响应随入射辐射 的调制频率而变化的特性称为频率响应，利用时间常数可得到光电器件响 应度与入射调制频率的关系，其表达式为： 2 1/2 R(f)=R/[1+(2πfτ)]0 （1-1） 式中，R(f)为频率是f时的响应度；R 为频率是零时的响应度,τ为时间长0 ‾ ‾ 数（等于RC）。当R(f)/R =1/√ 2 =0.707时,可得到放大器的上限截0 止频率f上 =1/2πτ=1/2πRC。显然，时间常数决定了光电器件的 频率响应的宽度。也就是说上限截止频率处响应度只有低频值的0.707倍。 3.2 响应时间 响应时间是描述光电器件对入射辐射响应快慢的一个参数。即当入射辐 射到光电器件后或入射辐射遮断后，光电器件的输出上升到稳定值或下降到 照射前的值所需时间称为响应时间。用时间常数τ的大小来表示。 当用一个辐射脉冲照射光电器件，如果这个脉冲的上升和下降时间很 短，譬如：方波。则光电器件的输出由于器件的惰性而有延迟，把从10% 上 升到90%峰值处所需的时间称为上升时间（t ）,而把从90%下降到10%r 处所需的时间称为下降时间。 响应时间、频率响应均作为器件响应速度的表征参量。如果器件的响应 速度慢，则输出信号将发生严重畸形。输出值随频率上升而下降，实验可证 明当频率升高时，光电流峰值下降。f上 负载电阻有关，负载电阻增大f上 下降。 光电器件应用时必须注意其方向性。一般在垂直于器件的端面（接收面） 上,光敏器件的灵敏度最高,发光器件的辐射强度最强。 1 影响响应度的因素： （1）偏压影响： 需加偏压工作的探测器，其响应度与偏压大小 有关。 （2）负载电阻影响：光电流I流过与探测器串联的负载电阻。L 图1.1光电探测器的频率响应 图1.2 光电探测器响应时间 (a)入射光信号波形;(b)响应光信号波形(上升时间;下降时间) 4 实验仪器 1） 信号发生器 一台 2） 示波器 一台 3） 双路直流稳压电源 一台 4） 毫伏表 一台 5） 万用电表 一块 6) 面包板及元器件若干 2 5 实验步骤及线路图 图1.3光电探测器时间响应特性测试框图 5.1 硅光电三极管的时间响应的测量 5.1.1 频率响应测试