利用dsp图像处理系统实现红外焦平面阵列的非均匀性校正-红外技术.pdfVIP

第26 卷 第5 期 红 外 技 术 Vol.26 No.5 2004 年9 月 Infrared Technology Sep. 2004 利用DSP 图像处理系统实现红外焦平面阵列的非均匀性校正* 柳 刚，黄竹邻，周 昊，何兆湘，陈四海，易新建 （华中科技大学，光电子工程系，湖北武汉 430074 ） 摘要：实用化、实时的非均匀性校正是红外焦平面器件应用的一个关键技术。根据两点校正法的原理， 提出了一种利用DSP 图像处理系统对红外焦平面阵列非均匀性进行校正的新方法。实验结果表明，此 方法可以应用于实时红外视频图像的处理，并能达到较好的效果。 关键词：红外焦平面阵列；非均匀性校正；DSP；图像处理系统 中图分类号：TN219 文献标识码：A 文章编号：1001-8891(2004)05-0034-04 1 概述 现代红外技术随着微电子技术的发展也得到了迅猛发展，红外探测器从单元到多元，现在又发展到了线列、 Ｎ列乃至焦平面阵列。因为焦平面面阵成像具有结构简单、探测能力强、帧频高等优点，正在成为红外成像技 术的主流器件。 红外焦平面器件是一种具辐射敏感兼信号处理功能的新一代红外探测器，采用焦平面探测器的成像系统具 有很多优点。如果系统的探测器元数为N ，理论上信噪比可提高N 倍。但由于各个探测器的响应度的不一致， 导致红外图像的非均匀性，严重影响着红外传感器的成像质量，因此必须进行红外非均匀性校正。 非均匀性（NU ）指的是红外焦平面阵列（IRFPA ）在外界均匀光强照射时各单元的输出不一致，在图像上 表现为空间噪声或固定图案噪声[1] 。它的来源主要有以下几个方面： 1）探测器中各阵列元的响应特性非一致性。当阵列具有较高的稳定性时，这种非均匀性在像平面上的模式 是固定的。 2 ）1/f 噪声。 3 ）电信号传输与放大通路的不一致。 4 ）红外光学系统的影响，尤其是冷屏的影响使图像表现为中间亮而四周暗。 目前探测器非均匀性校准方法主要有两点温度定标法（TPC ）、多点温度定标法（ETPC ）、恒定统计平均法 （CSC ）、时域高通滤波法（THPFC ）和人工神经网络法（ANNC ）等。目前应用最广的是两点温度定标法和多 点温度定标法[2] 。 利用DSP 进行信号处理是今后数字信号处理发展的方向。本文将ICETEK-C6711-IDK-M 图像处理系统用 于320 ×240 红外焦平面阵列非均匀性的校正。由于图像处理运算量大，而且该图像处理系统编程控制有一定的 难度，所以在选择校正方法时选用了简单实用的两点校正法。通过编制图像处理程序，可以实现两点校正法， 达到实时校正红外焦平面阵列非均匀性的目的。 2 两点校正法原理 [4] 两点校正法是最早开展研究的基本方法之一，也是系统中使用最广泛的一种校正方法。其原理如下 ： 在光敏元响应为线性的条件下，其响应可以表示为： Sn (W) ＝K n W＋S no (1) 式中： Sn (W)——光敏元n 的输出； K n ——光敏元n 的响应率； W——入射能量； S no ——光敏元n 的暗电流。 图 1(a)是具有不同响应率和不同暗电流的两个光敏元的输入输出曲线的示意图，从图中可以看到输入输出曲线 的截矩反映出暗电流的不均匀性，曲线的斜率反映出响应率的不均匀性。非均匀性校正就是要使曲线A , B 重合 于一条曲线，为此拟定一条标准曲线S 。将曲线A , B 作平移变换可得到图1(b)所示的三条曲线，再将A , B 曲线 * 收稿日期：2004-08-18 34 第26 卷 第5 期 红 外 技 术