本研究分别对编号为r287-sec1的卓兰层粉砂岩siltstoner351.doc

本研究分別對編號為R287-sec1的卓蘭層粉砂岩(siltstone)、R351-sec2錦水頁岩層粉砂岩(siltstone)及R390-sec3錦水頁岩(shale)進行微觀構造的觀察。 粉砂岩及頁岩的微觀構造觀察結果如圖31~33所示。圖31中觀察結果試體R351-sec2的孔隙型態以狹長的微裂隙為主，長度約為0.12mm，沒有明顯的顆粒邊界。圖32中試體R390-sec3的孔隙型態也是以狹長的微裂隙為主，但比試體R351-sec2的微裂隙大了許多，長度最長甚至達0.5mm，同時於試體表面觀察到一些小孔洞的存在，可能也是使得試體R390sec-3滲透率較大的原因。圖33為R287-sec1試體的拍攝結果，從圖中觀察到孔隙型態同樣以微裂隙為主，無顆粒邊界，其微裂隙的分布較多，但是其微裂隙的尺寸較小，長度甚至不到0.1mm。本研究觀察之頁岩及粉砂岩其孔隙型態皆以微裂隙為主，因無明顯的顆粒邊界存在，根據許瑞育[4]的研究結果發現，裂隙尺寸大的試體其滲透率也明顯較大，比較R287-sec1與R390-sec3之微觀構造的觀察結果得知，一個大尺寸的裂隙遠比多個小尺寸的裂隙對滲透率的影響更明顯可見。推測粉砂岩及頁岩的滲透率主要受微裂隙控制，由微觀構造觀察結果亦可推測，微裂隙或許是造成利用粉砂岩與頁岩試體的滲透率推求最大預壓密應力結果不理想有關。  圖 31試體R351-sec2的SEM照片結果，由圖中的紅線為看到的試體裂隙  圖 32 R390-sec3的SEM拍攝結果(a)R390-sec3試體中的其中一個大尺寸裂隙(b)試體R390-sec3觀察到一系列小孔洞(c)小孔洞之放大圖(1/2) 圖 32 R390-sec3的SEM拍攝結果(a)R390-sec3試體中的其中一個大尺寸裂隙(b)試體R390-sec3觀察到一系列小孔洞(c)小孔洞之放大圖(2/2) 圖 33試體R287-sec1在SEM下拍攝結果，紅線為觀察到的微裂隙  本研究分別對編號R307-sec1卓蘭層砂岩與CSK-3_375南莊層砂岩試體進行微觀構造的觀察，拍攝結果如圖34~35所示。透過砂岩的微觀構造觀察，得知砂岩試體的孔隙為顆粒與顆粒間所夾的空間為主，目前所觀察的砂岩例子(卓蘭層砂岩R307-sec1與南莊層砂岩CSK-3_375)其試體並無明顯微裂隙的存在。圖34為試體R307-sec1的拍攝結果，從圖34(a)中可以看清楚的看到顆粒，利用軟體直接量測顆粒的大小，得知試體的直徑約為0.1~0.2mm(圖34(b))，孔隙型態為顆粒與顆粒間所形成的原生空隙，試體並未觀察到微裂隙。圖34(c)為利用背向式電子成像方式所拍攝到的照片，再利用X-RAY進行元素分析可得表16，得知試體R307-sec1的元素主要以矽化物為主。 圖35為試體CSK-3_375的SEM拍攝結果，由圖35(a)的二次電子成像圖，沒辦法清楚的看到顆粒邊界；但是利用背向式電子成像(圖35(b))，可以觀察到CSK-3_375的顆粒邊界而得知顆粒直徑約為0.15mm。透過X-RAY對試體CSK-3_375進行元素分析的結果於圖36中呈現。顆粒元素分析主要成分為矽化物(圖36(a))；而顆粒與顆粒間的膠結物(圖36(b))元素分析結果推測可能的礦物有矽酸鹽類、多鋁紅柱石、鈣、鈉長石、雲母…等。 比較R307sec-1與CSK-3_375兩試體，試體R307sec-1無明顯的膠結物存在，因此在二次電子成像中即可清楚的看到其顆粒形狀主要多為次圓形。而試體CSK-3_375因為顆粒間有膠結物的存在，因此在二次電子成像中無法清楚的看出顆粒的邊界，必須透過背向式電子的成像才可看到顆粒的邊界，其顆粒的形狀為角狀，因膠結物的存在而幾乎看不出孔隙的分佈。對於砂岩而言，膠結物的有無將影響孔隙率的大小。 圖34 試體R307-sec1在SEM下的拍攝結果(a)二次電子拍攝圖，(b)利用SEM量測試體的顆粒大小，而(c)背向式電子影像(2/2) 圖 34試體R307-sec1在SEM下的拍攝結果(a)二次電子拍攝圖，(b)利用SEM量測試體的顆粒大小，而(c)背向式電子影像(2/2) 表 16試體R307-sec1在SEM下利用X-RAY成分分析所得到元素比例 Elementc Weight% Atomic% C 218.66 11.42 Si 981.15 21.91 O 1700.34 66.67 圖 35試體CSK-3_375在SEM下拍攝結果(a)二次電子影像(b)背向式電子影像(1/2) 圖 35試體CSK-3_375在SEM下拍攝結果(a)二次電子影像(b)背