液晶光电显示试验量测系统.PDF

IPhO 實驗題 2003/2/17 液晶光電顯示實驗量測系統 Ⅰ、背景知識說明 1. 雷射二極體及光偵測器簡介： (1) 本實驗所用的光源為雷射二極體(laser diode) ，雷射二極體是一種能 發出單色、偏極化的同調光的發光二極體(LED) ，當二極體電流達某 一定值時，會開始發生激發輻射(stimulated emission) ，即雷射光。 (2) 本實驗所用的光偵測器是利用光電二極體(photodiode)在逆向偏壓 時，受光照射會產生光電流(photocurrent)的原理製造的。在入射光為 單色光的情況下，光電流與入射光強度成正比，因此光偵測器的輸 出電壓可用來測量入射光的強度(light intensity) 。 2. 液晶簡介 液態晶體（簡稱液晶，LC ）是一種介於固態結晶體和非晶形液態之間的 物質。其中絲狀液晶(nematic LC)係由長條形有機分子所構成的，這些分 子的平均排列方向（經表面配向處理後）具有規則性，同時亦可以透過 施加電場驅使長條形液晶分子長軸的指向產生改變（當外加電場夠大 時，液晶分子長軸應順著電場方向排列整齊）。絲狀液晶對光具有特殊的 光學性質。光線沿著分子長軸方向傳播時，光波電場振動方向皆垂直於 分子長軸，光速皆相同，稱為尋常光，折射率 no 稱為「尋常折射率」，故 分子長軸的方向稱為光軸。光線前進方向不與光軸平行時，光波的電場 1 IPhO 實驗題 2003/2/17 分量可能與光軸垂直或平行，其中電場分量與光軸垂直的光波，也是尋 常光，折射率為 no ，但是電場分量與光軸平行的光波，其光速不同於尋 常光，稱為異常光，折射率為 ne ，稱為「非常折射率」。非常折射率 ne 與 尋常折射率 no 之差以Δn = ne-no 代表（Δn 稱之為雙折射量）。在大部分的 光電液晶元件中，均要求液晶分子的配向均勻或有預設的配向分布。本 實驗之液晶片結構如（圖一）。 圖一 液晶片結構 使用擦鏡紙沿單一方向磨擦上圖所示之 PI 膜，可在 PI 膜表面形成細微 的溝紋，它會令相鄰的液晶長分子沿溝紋方向排列整齊，並進而透過分 子間的作用，使其他液晶分子隨之規則排列，如此可獲得均勻配向的絲 2 IPhO 實驗題 2003/2/17 狀液晶片。 3. 90 度扭轉之絲狀液晶片( 90oTN-LC) 90o扭轉之絲狀液晶片示如（圖二），右邊PI 膜之 LC 配向方向，相對於 o （圖二）90 TN −LC 液晶分子配向扭轉示意圖 左邊 LC 之配向扭轉 90 度。故液晶分子在液晶層中亦逐漸扭轉 90 度， 如（圖二）所示。若令起偏鏡的偏振方向平行於 TN-LC 左邊 PI 膜的 LC 配向，則入射後的偏振光穿經 90oTN-LC 時，其偏振方向會隨著液晶 分子的扭轉配向而扭轉，產生旋光現象使得透過 TN-LC 的光維持為線 性偏振，但其偏振方向扭轉 90 度。由於入射偏振光的電場振動方向始 終維持與液晶分子長軸方向平行，故它顯示為非常光，其折射率為 ne 。 3 IPhO 實驗題 2003