膜与膜过程_第三章_膜的表征.ppt

第三章 膜的结构和性能测试 3.1 概述3.2 膜结构3.3 膜结构的测定 3.4 膜的性能 3.1 概述 分离膜的表征内容包括膜的性能及其结构、形态，研究膜的结构目的在于了解其与性能（主要是分离性能）之间的关系，以此指导铸膜液组成及成膜工艺条件的选择，从而不断地改进膜的笥能，提高膜分离技术的经济效益，扩大其应用范围。 不同的膜结构使膜具有不同的性能，同样不同性能的膜也需求不同的相应结构。 了解膜的结构，膜的性能以及两者之间的关系，可以指导制备所需结构的膜，也可以预示膜结构与性能的关系，促进膜的不断改进和提高。 3.2 膜结构 不同的膜，由于所用材料、制备工艺和后处理等方面的不同，其结构各有差异。 主要的结构方面，有均相，异相， 对称和非对称， 复合，镶嵌，拉伸取向，增强等整体结构； 有表层，皮层，过滤层，支撑层之分； 有孔径，孔径分布，孔隙率和孔的各种形状等较精细的结构要素。 膜过程包含各式各样的分离问题，具体过程需要用到某种特定的膜，因此膜的结构和功能表现也很大的差异。 更好地理解分离过程并能对一特定分离所需要的膜结构做出可能的预测，需要对膜结构与传递现象之间的关系进行研究 。 确定对特定分离任务可选用的膜。成膜参数中某一参数的细小变化都可能改变膜（皮层）结构，进而显著影响膜性能。重复性也是常见的问题。 将孔径、孔径分布、自由体积和结晶度等膜的结构性质与膜的分离性能进行关联。 膜生产者给出的关于膜性能的信息，如膜截留、孔径、孔径分布等信息缺乏可比性。 通过膜表征测量将获得预测具体应用中膜的性能信息。通过膜的表征可以确定给定膜的结构和形态特性。对于制成的膜，不管其结构怎样，首先要采用简单的方法对其形态进行表征。 3.3. 膜的结构表征 膜的表征：不同范围的孔需要不同的表征方法。孔径越小，表征越困难。 膜根据是否有孔分类：多孔膜和无孔膜 本章所讨论的膜的表征适用于多孔膜和无孔膜。 微滤/超滤膜中均存在固定的孔，可采用几种方法表征。为避免在定义多孔腔时遇到的混乱，对于微滤和超滤膜，均采用“多孔”这个词，而不采用常用的“微孔”。多孔这一与国际纯粹化学与应用化学联合会（IUPAC）采用的定义更一致。 大孔： 孔径50nm 中孔：2nm孔径50nm 微孔：孔径2nm 多孔膜的表征方法可分为两种： 结构相关参数：确定孔径，孔径分布，皮层厚度和表面孔隙率。 渗透相关参数：通过溶液被膜或多或少地截留，确定实际分离参数（截留测定） 3.3.1、多孔膜的表征 （1）微滤膜 电子显微镜 原子力显微镜 泡点法 气体渗透泡点法（湿干流动法） 汞注入法 渗透率法 ① 电子显微镜法 电子显微镜（EM）是用于膜表征的一种设备，可以分成两种：扫描电子显微镜（EM）和透射电子显微镜（TEM）。对于研究和表征微滤膜的多孔结构，扫描电子显微镜更方便。也可以研究其它不对称膜的结构。 简单电子显微镜的分辨率为0.01μm(10nm)，更高级电子显微镜的分辨率可达5nm左右（微滤膜的孔径为0.1~10μm）。 ② 扫描电子显微镜原理 一束动能为1~25kV的入射电子（又称为一次电子）撞击在膜试样上，从试样表面原子中撞击出二次电子，这些二次电子在检测器的屏幕上形成一定的图象。 为避免试样被烧坏，可在表面上覆盖一层导电层防止表面带电，通常 用金制薄层，即喷金。 样品的制备：对于潮湿试样的干燥，为防止毛细管力造成膜结构破坏，可采用冷冻单元，或在干燥前用低表面张力液体替换膜中的水。 扫描电子显微镜是用于表征微滤膜的简单而有效的仪器。对表层、横断面和底层可得到清晰又简洁的图象。另外根据照片可以确定孔隙率和孔径分布。 ③ 原子力显微镜（AFM） 原子力显微镜是用来表征膜表面的一种新方法。直径小于10nm的非常尖的探针以恒定的力扫过被测表面时，探针顶部的原子会与样品表面发生London-van der Waals相互作用，通过检测这些力就可得到样品表面的扫描结果。运用微悬臂，可以实现在小于1nN（=10-9N）的很小的相互作用力下检测，因此可以使用该方法检测像聚合物这样软的表面。 原子力显微镜（AFM）是一种检测表面结构的方法，根据AFM图象的横截面可以得到孔径及孔隙率，这种方法的优点是试样无需预处理，且可在大气条件下进行测量，其缺点在于，如表面粗糙会使检测结果很难分析。此外，作用力较大时有可能损坏聚合物的结构。 ④ 泡点法 泡点法是用来表征膜最大孔尺寸的一种简单方法。这种方法主要是测定空气吹过充满液体的膜所需要的压力。过滤器的上面与液体（如水）接触，液体使膜润湿，此时所有孔都充满液体，过滤器底部与空气相连，当空气压力逐渐增大到一定量时，气泡会通过膜。压力与孔半径之间的关系由Laplace方程确定。 由于水的表面张力很大，在测定小孔径膜时，需要较高的压力差（孔半径分别