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测试规范专用课件
Page * Confidential 连接器测试规范 报告人:江龙 东莞竟跃电子有限公司 2009年9月28日 連接器常用業界標準 美國電子工業協會 (EIA) 美國印制電路協會 (IPC) 美國軍用標準 (MIL-STD) 電氣與電子工程師協會 (IEEE) 日本工業標準 (JIS) 國際電工委員會 (IEC) 連接器常用測試標準 試驗分類 測試標準所規定之試驗一般分成三類: 電氣試驗標準、機械試驗標準、環境試驗標準 標準試驗條件 除非另有規定, 所有測試應在下列環境條件中進行: a.溫度: +15~+35℃. b.大氣壓力: 550~800mmHg. c.相對濕度: 20~80% 常用連接器測試標準 EIA(美國電子工業協會) MIL-STD-1344A 電連接器試驗方法 MIL-STD-202F MIL-STD-810D (環境試驗方法) 连接器测试标准 序号 测试类型 测试名称 测试目的 测试依据 测试标准 测试设备 测试方法 注意事项 1 电气特性 绝缘阻抗测试 评估连接器或同轴端子之绝缘材料,在通过直流电压后,其表面产生漏电流之状况 业界规范MIL-STD-1344, 3003.1 绝缘电阻测试仪 1、如果样品有特殊规定,对于测试前之样品需经清洗处理,则样品需置于合适之溶剂后,以纯水清洗,再置于有对流作用之烤箱,以35±5 ℃之条件烘烤2H,取出后再放置于室温0.5H再测试。 2、测试绝缘阻抗必须加上电压连续2分钟后再作测量。 3、测量点对连接器而言,为距离最近之任何两根端子或端子与铁壳,若为同轴连接器则为内部与外部之端子。 4、当有多组测试数据时,以最小值作为判定基准。 5、在测试过程中不得有火花或塑胶击穿之现象发生。 无 绝缘电阻测试 连接器测试标准 序号 测试类型 测试名称 测试目的 测试依据 测试标准 测试设备 测试方法 注意事项 2 电气特性 耐电压测试 确定连接器之安全额定电压,以及受瞬间的超额电压,开关冲击电压与类似现象之安全性,进而判断绝缘材料与其组成之绝缘间隔是否适合。 业界规范MIL-STD-1344A, 3001.1 高压测试仪 1、测试电压,依样品规定之电压大小、性质(交流或直流)作测试。 2、电压升高率:以每秒升高约500V(Vrms或Dc)由零点升至所规定之测试电压值,在工厂内可选择瞬间达到测试之电压值。 3、测试点为最近之两根端子或端子与铁壳。若为同轴连接器,则为导体之外部与内部。 4、测试时间为1分钟。 5、漏电流(Leakage Current或Cut OFF Current)最大值为5mA。除特别规定外,一般测试均以0.5mA为规格。 因耐电压测试为高压测试项目,故在量测时应特别小心,以避免操作上疏忽,造成人员受伤。 耐电压测试 连接器测试标准 序号 测试类型 测试名称 测试目的 测试依据 测试标准 测试设备 测试方法 注意事项 3 电气特性 接触阻抗测试 测试连接器在通过电流下端子之接触阻抗,其测试值包含端子本身之阻值。 业界规范MIL-STD-1344, 3004.1 Connector Cable Testing System AD 411S 1、将公母连接器结合一起,并将公母连接器之端子串联成一回路。 2、回路上通过一测试电流,然后测量端子两端之微小电压降,即得其阻值。 1、测试前应先确认其回路是导通而非OPEN状态。 2、测试点位置应一致性,而非高低不齐。 3、测试接触电阻时,要注意保持样品不受振动。 接触电阻测试 连接器测试标准 序号 测试类型 测试名称 测试目的 测试依据 测试标准 测试设备 测试方法 注意事项 4 电气特性 低功率接触阻抗 在不破坏氧化薄膜之状况下测试,两端子间的接触阻抗籍以评估端子之总体性评价。 业界规范MIL-STD-1344A, 3002.1 Keithley 5802 Microhmmeter 1、将公母端子或连接器结合一起 2、以20mV(max)的测试电压、100mA(max)的测试电流之量测条件,量测两端子之电压(V1、V2、V3、V4、V5、V6) 3、若前进与后退电流不等时,应以公式计算(样品电阻+(前进电压+后退电压)/(前进电流+后退电流) 1、测试电压不得大于20mV. 2、电压降的测试点应固定,不可变动。 3、为了不破坏端子表面的氧化薄膜,测试电流应越小越好。 低功率接触阻抗 连接器测试标准 序号 测试类型 测试名称 测试目的 测试依据 测试标准 测试设备 测试方法 注意事项 5 电气特性 电容测试 在量测连接器端子之间或端子与其他金属件之间的电容性质。 业界规范EIA-RS-364A, TP30A HP4278A 以1Khz or 1Mhz之测试频率,测试相邻两PIN间之电
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