小功率三极管测试仪的设计制作-开题报告.docVIP

开题报告 1．毕业设计的主要内容、重点和难点等 研究内容 在科研实验室中，面对种类繁多，功能各异的晶体管。研究人员需要用专业的仪器检测其特性参数，根据检测结果筛选使用。晶体管的特性参数是设计人员筛选使用晶体管的依据，只有跟据实际需要，选择适当器件进行电路设计才能满足应用要求，传统的晶体管测试技术成熟、价格便宜，但测试精度不高，国外产品功能强大，精度高，但价格昂贵。本课题针对实验室科研要求，研制一种价格适中，操作简便、测试精度高、有较强实用性的小功率三极管测试仪。使它具有测量晶体管的直流放大系数、交流放大系数和输出特性曲线的功能NPN型和PNP型，而在我们使用三极管之前，了解三极管的类型和三极管的放大系数等基本参数是非常必要的。现在市场上的测量晶体管参数的仪器种类繁杂，其功能也因测试的参数不同而千差万别，较为普遍的是测量三极管的放大系数，还有很多三极管参数测量仪可以测量反向击穿电压、反向饱和电流、晶体管的输入输出特性曲线、延迟时间、晶体管开启时间、存贮时间等多种参数，最为常用的就是用数字万用表测量三极管的直流放大系数。现在市场上的三极管测量仪虽然功能强大、操作方便、精度高，但是体积较大、价格也相对昂贵。 随着半导体器件越来越大规模集成化，复杂化，其形式也更多样化，用途也越来越广泛，半导体器件奠定了现代电子技术的基础而作为半导体器件基础组成部分的三极管，它的正确使用是设计人员应重视的问题。 （2）国内的发展趋势[8-9] 自50年代起，电子器件出现了重大的突破，电子工业由电子电子管时代迈向晶体管时代，这是一次质的飞跃。随着晶体管的出现，测试其参数的测试仪也相应而生，并随着晶体管的发展而发展。传统的晶体管特性测试仪一般也称为图示仪，晶体管图示仪经经历了全电子管式，全晶体管式，与集成电路混合式几个发展阶段，1964年，我国第一台电子管式图示仪JT1型问世。70年代初，，上海无线电二十一长厂试制了QT2型晶体管式图示仪，满足了半导体器件飞速发展的需要，80年代，一XJ4810型为主要代表的晶体管与集成电路混合式的晶体换特型测试仪出现。随着科技的发展和需求的提升，嵌入式技术，液晶显示，接口扩展的引入，以及测试电路的不断优化，使晶体管的特性测试仪向着集成化、智能化，高精度、多功能方向不断发展，因而形成了一些显著特点是：集成信源是全合成花的信号源，即使在扫描是亦可保证其稳定性和精度；内置矢量精度增强措施，对显示提供优良的误差修正精度；测试速度极快，智能化操作简便。 随着科学技术的发展和三极管的广泛应用，晶体管测试仪体积趋于小型化，便于携带；功能趋于全面，测试范围广；测试精度高。但是这样的产品会增加相应的成本，如何降低成本并且测试指定的参数成为今后三极管测试仪发展的趋势。 主要参考文献 [1] 谭浩强 .C语言设计教程[M]. 北京：清华大学出版社，2007. [2] 李升.单片机原理与接口技术 [M] 北京：北京大学出版社,2011.08. [3] 杨素行.模拟电子技术基础简明教程[M]. 北京：高等教育出版社，1989. [4] 王连娣.模拟电子技术基础实验[M]? 长沙市：湖南科学技术出版社,1994. [5] 康华光.电子技术基础（模拟部分）[M].北京：高等教育出版社，2005. [6] 任致程.万用表测试电工电子元器件300例[M]? 北京市：机械工业出版社,2003. [7] 陈永甫.多功能集成电路555经典应用实例[M]?北京市：电子工业出版社,2008. [8] 陈艳燕，杨小锋.基于单片机的晶体管特性曲线图示仪[J].仪器仪表学报，2005，08（26）:464-465. [9] 熊开封，田俊武.三极管类型、管脚及材料的理论判断方法[J].西南科技大学高教研究，2010,03（09）:19-24. [10] Atmel Corporation 8-bit AVR with 8k byte In-System Programmable Flsah-ATmega8(L).Manual[S].2486Z-AVR-02/11,2011. [11] Atmel Corporation Atmel AVR121:Enhancing ADC resolution by oversampling. Application[S]. 现有设备和实验条件 个人计算机、示波器、直流稳压电源、数字万用表、开放实验室 3、实施方案、进度实施计划及预期提交的毕业设计资料 实施方案 本课题有三个主要问题需要解决，分别是系统整体设计、系统误差规避、系统程序和系统实物设计制作。其中，系统整体设计可以通过查阅相关资料和借鉴工业成品来解决；系统误差规避主要通过所学知识和查阅相关资料吸取总结已有经验，提高制作工艺规避系统误差和偶然误差来实现；软件程序的设计和实