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基于M-Z光纤干涉仪测量极化聚合物的电光系数.pdf
光 电子 ·激 光
第 卷 第 期 年 月
16 4 Z005 4 VOl.16 NO.4 A r.Z005
Journalo O toelectronics Laser p
f p
%
基于M-Z光纤干涉仪测量极化聚合物的电光系数 %
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洪建勋 !陈建平!李新碗!王义平
上海交通大学区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室 上海 Z00030
摘要 提出了采用 光纤干涉仪的电光聚合物电光系数测量方法 对其测量原理进行
Mach-Zehnder M-Z
了分析 研究了光纤干涉仪的臂长差~样品的插入损耗对系统可见度的影响 讨论了通过合理设置耦合
器的耦合系数提高系统测量性能的方法 系统具有较好的稳定性和较高的灵敏度 既适合于聚合物薄
膜也适合于聚合物波导的测量 系统干涉可见度为 可分辨的最小相位变化约为 -6 该
0.86 6X10 rad
系统可以同时测量 个独立的电光系数 和 使用该系统测得一种有机 无机杂化材料
Z 713 733 ASD SiO -Z
极化后的电光系数为 和
TiOZ 713 =0 7Z 0 01 m Vp 733 =Z 8 0 01 m Vp
关键词 电光系数; 光纤干涉仪; 可见度; 测量
Mach-Zehnder M-Z
中图分类号! 文献标识码! 文章编号!
TNZ47 A 1005-0086 Z005 04-046Z-04
Measurement of Linear Electro-o ticCoefficientsof Poled Pol mersb an
p y y
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