X波段高功率微波馈源辐射总功率阵列法测量技术.pdfVIP

第23卷第11期 强 激 光 弓 粒 子 束 Hl【：HP()WERLASERAND 2011年11月 PARl’】【’LEI{EAMS NOV．．201l 文章编号：lonl1322(20lI)lI一3119(iS x波段高功率微波馈源辐射总功率阵列法测量技术 闰军凯． 刘小龙． 叶 虎． 杨 猛． 晏 峰． 崔新红． 周 俊 70(I (巾旧人陀解放军63fi55酃队．q辟木卉811 摘要： 分析厂采_}II阵列法测坫高功率微波(HPM)馈源辎射总功半的柳荚技术环节。仿真计算了槊犁 舯场功率密度进行测址．保iI}：功砗!密度测艟结果一致性和晌复件。铡址结果表明：多路测城系统测破波形相 dB 同，单路系统多次重复测时偏差在4-_O．1dB内，多蹄测蚺系统对同一点辐射场功率密度测量偏筹庄±0．3 内．馈源热测￡面方向幽崎冷侧缔果基本符合．积分总功率与等效辐射功率测城结果吻台较好。 关键词：高功率微波；馈源；总功牢；测城；阵列法 中囤分类号：()441．5 文献标志码：A doi：103788’HPI，P3¨9 源功率容量和辐射效率等具有重要意义．但因为高功率微波自身功率测越的难点，常因与在线功率测堵或等效 带积分获得馈源辐射总功率．较之在线功率测量和EIRP反推．过程较复杂．误差因素较多．所以馈源辐射总功 密度大．测最系统环节较多．为长串联系统．导毁测点HPM辐射场功率密度测量精度不易保证“‘。本文对某 型X带HPM馈源辐射场分布进行仿真，根据馈源辐射场分布设计球带积分法相关测量参数，保证误差闲素一 对测量结果的影响在可接受范围内；针对误差因素二设计多路测撼系统组成阵列对测点功率密度进行测量，克 服单路K串联系统缺点．提高测量结果稳定性和测量精度。 1 馈源辐射场分布仿真 对球面I：各点辐射场功率密度作面积分得到馈源辐射总功率，如图I所示。为简化测量．一般对球面作球 带剖分．以半球带内某测点功率密度s．近似半球带内平均功率密度s。．面积分计箅半球带内的功牢P7．对所 有半球带功率P．求和得到馈源在±口角度范围内的辐射总功率尸。，如图2所示。积分法测艟馈源辐射总功率 需要测最球冠半径R、测量球冠半锥角0和测点角度间隔△口共3个参数。 rotal rme…rcnlcllIsIlrf“rP ofcm·Iour Fig．】 powt by inlegra Fig．2．％-ht．ma*icdiagram method imegral 甩l税分?占测世总功率瞰理陌 阁2球带秘分法辱【理吲 c)6-28： ·收藕日期：20Il 俸订日期：!(111r邶·16 薹童项目：H|采高技术发腮if划项U 作者简介：H，牛，飙t198Z)．男．碗h cnnI E蜓^L书高功啐‘姑渡试驻研究‘yanjuakai(a163 强 激 光 与 粒 子 束 第23罄 建立馈源CST模型．设置收敛条件一30dB．关闭远场近似．端I_=iTE。模式激励．汁算穿过馈源内各横截 面和距离相心4．13121处球而的微波总功率与端u注入功率的关系．结果表明微波在馈源内传输和辐射的功 率损耗可以忽略．球面积分得到总功率等于馈源端u注入功率，如表1所示。 寰I 徽