利用Agilent8800电感耦合等离子体串联质谱仪消除氢化物离子(MH+).PDFVIP

利用A gilent 8800 电感耦合等离子体串联 质谱仪消除氢化物离子 + 对稀土元素的 (MH ) 干扰 应用简报 地球化学、矿业和材料科学 作者 Naoki Sugiyama 安捷伦科技公司，日本东京 引言 Agilent 8800 电感耦合等离子体串联质谱仪 （也称为 ICP-MS/MS ）因其独特 的 MS/MS 反应模式而能提供卓越的反应池性能。第一个主四极杆 (Q1) 位于八 极杆反应池系统 3 的前面，作为 质量过滤器严格控制进入反应池的 (ORS ) 1 amu 离子。只有具有目标分析物质量数的离子才能进入反应池；而所有其他质量数 则被排除。由于等离子体和基质中的干扰离子被 消除，池内的反应过程大为 Q1 简化而且更容易预测，使得Agilent 8800 ICP-MS/MS 可以广泛应用于解决棘手 的干扰问题[1]。本应用简报将介绍消除MH+ 对稀土元素 (REE) 的干扰。 稀土的测量对于地球化学、矿业和材料科学具有十分重要的意义。在高纯稀土 材料的制造中，需要能对精炼单一后的高纯稀土材料中的 REE 杂质进行定量分 析的技术。ICP-MS 是痕量测定稀土元素的首选技术，但是大多数稀土元素都 会受到来自其他稀土产生的多原子离子 （主要是氢化物离子 + 和氧化物离 (MH ) 子 + ）的干扰。由于 + 干扰强度低于 + 干扰， (MO ) MH MO 实验部分 对于 ICP-MS 就更具挑战性，因为即使采用高分辨率扇形 所用的仪器为标配的Agilent 8800 电感耦合等离子体串联 磁场 ICP-MS 也不能实现其质谱分离。将分析物离子与干 质谱仪 ，带有 透镜和 锥。为了实现 扰性 MH+ 峰分离所需的质量分辨率超出了商业化高分辨率 (G3663A #100) x Ni 更快速的清洗，采用 PFA 雾化器代替 Micromist 雾化器， 仪器的分析能力 。图 显示了 的质 ICP-MS [2] 1 10 ppm La 谱图。m/z 138 和 139 处的峰分别为 138 La+ 和 139 La+ ，而