灯用稀土紫外发射荧光粉试验方法第2部分发射主峰和半峰宽的测定.DOCVIP

前 言 GB/T xxxx—200X《》共分个部分： ——第1部分： ——第2部分：——第部分： 本部分为第部分。 本部分由全国稀土标准化技术委员会）。 本部分由江门市科恒实业股份有限公司起草。 本部分公司。 本部分主要起草人：、。 本部分人：、、。 GB/T —200× 灯用稀土紫外发射荧光粉试验方法第2部分：发射主峰和半峰宽的测定 范围 本部分规定了灯用稀土紫外发射荧光粉发射主峰和半峰宽的测定方法。 本部分适用于灯用稀土紫外发射荧光粉发射主峰和半峰宽性能参数的测定。 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 CIE 15-2004 色度学 CIE 1931 标准色度观察者 方法原理 试样在 253.7nm紫外线激发下发射280-380nm波段内的紫外光，经光谱辐射测试仪分光与光电转换，把单色光信号转成电信号，再经标准灯校正，获得与光强对应的电信号值；按一定的波长间隔测得整个可见光波段，获得该试样在280-80nm波段相对发射光谱功率分布。 仪器 测量系统装置 光谱辐射测试仪，测试仪必须满足下列指标要求。 波长不确定度：标准偏差不大于0.5nm； 波长重现性：标准偏差均不大于0.2nm；250nm～480nm 激发、测试条件：激发（照射）光线与试样（或漫反射白板）表面法线方向成45o，接受方向垂直试样表面（45/0）；或激发光线与试样表面垂直，接受方向与试样表面法线成45o（0/45）。 漫反射白板要求：计量部门标定过的压制分析纯BaSO4。 激发部件 253.7nm紫外线低气压汞灯加配滤色片，滤色片峰值透射比应大于10%，300nm～800nm的透射比不大于0.01%，253.7nm辐射强度稳定度优于0.2%/10min，否则应加补偿。 校正部件 波长校正灯：波长为253.7nm、 404.66nm、435.88nm、546.07nm 的低气压汞特征谱线，另外还应有大于600nm的谱线。如波长为656.10nm的氘谱线，或波长为632.80nm的He-Ne激光，或汞氩灯在600nm～800nm间的谱线等。 光谱响应校正灯：经过国家计量部门检定的已知光谱功率分布的标准光源，并按国家计量部门规定送检。 测试步骤 光谱辐射测试仪波长校正 分光仪波长读数和被测光源实际波长对应关系的校正：用满足4.3.条件的已知波长的光源，校正分光仪出射波长与仪器波长读数。校正后测试此波长的光源多次，测得波长与已知波长关系应满足4.1.1.1与4.1.1.2要求。 光谱辐射测试仪光谱响应的校正 将漫反射白板放置于试样位置，用光谱响应校正灯按4.1.要求照射漫反射白板。 调正仪器灵敏度，使光谱辐射仪处于线性工作区。 选择合适的仪器带宽，带宽一般为1nm或5nm。 从280nm～480nm按确定的Δλ顺序记录光电信号。 校正后测试此光谱响应校正灯及较高色温的试样。按式（1）计算出系统光谱响应函数： 式中： ——系统光谱响应函数； ——校正光源的相对光谱功率分布； ——测得的光电信号。 测试 激发灯满足4.2要求，激发灯与试样位置满足4.1.2，激发试样。 从280nm～480nm按一定的波长间隔测得试样光电信号。 按式（2）计算试样相对光谱功率分布： 式中： ——试样的相对光谱功率分布； ——测得的光电信号； ——系统光谱响应函数。 测试结果表述 发射主峰波长 由5.3.3求得的相对光谱功率分布中，能量最大的发射峰所对应的波长为发射主峰，所得值的准确性为λ±（Δλ／），其中Δλ是测量带宽。由5.3.3求得的相对光谱功率分布中，能量最大的发射峰所对应的波长为发射主峰，发射主峰一半高度处光谱的宽度。精密度 重复性 在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限（r），超过重复性限（r）的情况不超过5%，发射主峰和的重复性限按表1和表2数据采用线性内插法求得。 表1 试样牌号 发射主峰（λ）/ nm 重复性限（r）/ nm 半宽λ1/2nm 重复性限（r）/ nm 20UVB300） 298 0.0 41.3 0.48 298 0.0 40.5 0.72 298 1.46 41.0 1.08 208001B（UVA