EAST外杜瓦常温下的真空状况初步分析.doc

EAST外杜瓦常温下的真空状况初步分析 王小明 06年1月26日 分析状况和结果 外杜瓦内的真空在抽气机组的粗抽条件下进入2.6Pa(正常状态)。外杜瓦内的全部低温回路通氦并保压0.1MPa（与白红宇确认）。 用质谱分析系统对外杜瓦内的残余气体进行取样分析，系统内本底真空3.1E-5Pa, 取样时的真空(6.1-3.5)E-3Pa。在质谱分析的时间内取两点，其外杜瓦内空间气载成分如下： 其中一点数值为: 成分 分子百分比 实际分压(Pa) H2O 31.2% 8.11E-1 N2 52.7% 1.37 O2 13.97% 3.63E-1 Ar 1.34% 3.48E-2 CO2 0.77% 2.00E-2 H2 0.01% 2.6E-4 He: 0.0005% 1.3E-5 另一点数值为: 成分 分子百分比 分压(Pa) H2O 31.0% 8.06E-1 N2 52.95% 1.377 O2 14.16% 7.29E-1 Ar 1.37% 3.6E-2 CO2 0.53% 1.38E-2 H2 0.013% 3.38E-4 He: 0.00048% 1.25E-5 分析结果的讨论 空气的成分（N2、O2、Ar等）约占69%，水汽约占31%。主要来自外部空气的泄漏和内部各部件死空间内原存空气的释放。作为低温容器，在常温下空气易被抽除，水汽难被抽除。 氦的成分约占0.0005%。其中，应扣除内部各部件死空间内原存氦气的释放和空气中的氦气含量（0.0005%）。故外杜瓦内部低温系统的氦漏应小于这个值。 气水平达到Pa的量级真空度即可以。10-2Pa的真空度有利于提高检漏仪对氦的可检漏率。如果内部各种材料放气水平在Pa的量级下长时间保持，可考虑进入普冷阶段，加快对磁体主机各系统的氦检漏。　 总体检漏前的准备状况 外杜瓦封头、中筒和底盖板完成封装，大小法兰的密封全部完毕，仔细检查外围各部件是否与外部大气完全隔断。 外杜瓦抽气机组已安装，具有低、高真空分级抽气的能力。同时由于内外两室相通，安装了内真空抽气机组，以作备用。 磁体主机系统各低温回路应具有送氦和降温的能力，在检漏过程中适时投入，以便加快磁体主机系统检漏进程。 已配备了至少6台氦质谱检漏仪，分别安装在内、外真空抽气机组、两处电流引线罐、低温传输线、低温阀箱的分子泵出气口接口上，以便分别确定各个系统的漏率。目前采用的检漏仪均为逆扩散型即对氦的取样点在仪器的机械泵进口位置上，可在高压下进行检漏。 在外杜瓦窗口法兰上安装了原位标准漏孔，可根据检漏仪对检测对象的反应信号与原位标准漏孔反应信号的比值来计算漏率的大小。如果检漏仪对原位标准漏孔的反应值太小，可根据抽气的实际情况依次关闭部分前级机组阀门和检漏仪的安放位置计算漏率的大小。 在外杜瓦抽气机组上已安装质谱分析系统。差分质谱分析用于室温状态下真空中的残余气体分析，判断材料的放气和外部空气的泄漏；原位质谱分析用于磁体主机低温运行时实测氦漏率。 外部空气泄漏的检漏 外杜瓦壳体材料、连接焊缝、大小法兰的密封及诊断引出线的接头是空气泄漏的部位。检漏的目的是确定泄漏的位置和排除漏孔，使总体漏率达标。 在外杜瓦抽空的条件下，采用氦质谱检漏仪负压检漏。根据采用的氦质谱检漏仪的特点，不必也决不可在大漏的情况下采用对外杜瓦充氦正压吸枪检漏，因为氦在内部低温材料的滞留尤其是在夹缝或夹层中是很难排除而提高氦的本底浓度。在真空抽气过程中，为提高检漏仪的可检灵敏度，检漏仪应放置在主抽气泵的位置上。 检漏工作分为粗检和细检两个阶段。在粗检阶段，对各部件逐个进行喷氦检漏，发现有漏，及时排漏。在细检阶段，用塑料布罩住整个装置充氦进行总体检漏，判断是否漏检和确定总漏率。利用差分质谱分析系统对外杜瓦进行残余气体分析，了解材料放气成分和泄漏气体成分的比值，对外杜瓦内的真空状况进行评估。 2. 低温过程中的检漏 磁体主机在常温态下的总漏率达标后，即可降温。在低温态下进行检漏的方法是通过磁体主机低温回路压力变化和检漏仪氦信号的变化来确定氦漏率的大小。根据经验，发生冷漏，主要出现在80K温区段。因此磁体主机降温到80K后，应保持较长的时间进行低温锻炼，同时进行漏率检测。 一旦在降温过程中发现磁体主机总漏率超标，可对各分系统回路作氦压的升降试验，找出泄漏的大体区域。 磁体主机进入超导温区，在实验前后应进行漏率的测试。方法是:关断与真空室连接的所有抽气口阀门，用原位质谱仪分别测试静态时的本底氦分压和打开原位标准漏孔的氦分压的上升斜率,通过比对法来计算出磁体主机在工作状态下的氦总漏率。 ZJ-10电离规显示真空室全压为2.6Pa, 开始时间为13:25 装置低温回路充氦0.1MPa 差分质谱分析电离规本底真空3.1E-5P