SPC统计过程管制0108.pptVIP

SPC 統計過程管制 Statistical Process Control 講議大綱 Spc的產生 管制圖的分類 X-R管制圖制作步驟 管制圖的判讀法 Ca 、Cp、Cpk A.計量值管制圖 a.平均值与全距管制圖(X-R Chart) b.中位值与全距管制圖(X-R Chart) c.個別值与移動全距管制圖(X-Rm Chart) d.平均值与標准差管制圖(X-R Chart) B.計數值管制圖 a.不良率管制圖 b.不良數管制圖 c.缺點數管制圖 d.單位缺點數管制圖 利用5W1H已掌握製程狀態 WHY(為何) WHAT(做什麼)— WHERE(何處)— WHEN(何時)-- WHO(何人) HOW(如何) 決定管制項目 管制項目的定義 為維持產品的品質，作為管制對象所列舉的項目 → 特殊特性： 尺寸、材質、性能、外觀 實施標準化 意義：所做的每一件工作、產品，都是 可以成為可靠的工作與可靠的產品 目的：不會做出標準以下的工作、產品 步驟：1.成立標準化體制 2.標準化的計劃 3.標準化的運作 4.標準化的評價 數值法過程能力分析 製程準確度Ca(Capability of Accuracy) 衡量自產品中所獲得產品資料的實績平均值(X),與規格中心值(u)其間偏差的程度,是期望製程中生產的每個產品的實際值能與規格中心值一致 (1)Ca之計算方式如下： 實績平均值-規格中心值 X-u Ca=----------------------------------*100% = --------------*100% 規格公差/2 T/2 T=SU-SL =規格上限--規格下限 過程能力指數 Cpk( 穩定的制程 ) * * 一、SPC 產生過程 SPC經曆了：1910年---1924年---1939年---1940年四個階段美國在二次世界大戰中為了武器的品質曾經普遍的推廣興使用統計方法故說:品管史就是戰爭史，品管因戰爭而進步 二、管制圖的分類 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) A 收集資料 A1 選擇『子組大小、頻率和資料』 A2 建立管制圖及記錄原始資料 A3 計算每個子組的『平均值 ( X ) 和極差 ( R )』 A4 選擇管制圖的刻度 A5 將平均值和極差，標記到管制圖上 三、 X-R管制圖制作步驟 (1)建立管制圖之步驟 a:選定管制項目 b:收集數據 C:按產品生產之順序或測定順序排列數據 d:數據之分組 sample=2~5, group=20~25 e:將分組之數據紀錄數據記錄表 f:計算平均值X bar g:計算全距 R 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) h:計算總平均值 X I:計算全距之平均值 R j:查係數A2, D4, D3( 表 12-2 ) k:計算管制界限 l:繪管制界限 m:點圖 n:管制界限之檢討 (1)全界限內並隨機分佈-直接建立管制用管制圖 (2)有點超出規格-調查消除並重新計算管制界限 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) (3)有點超出原因不明或已查出但無法消除這些點無須 除去. (4)重新計算管制界線後仍有點超出新管制界,無須去除. O.畫直方圖 p.與規格比較 (1)(USL-LSL)(UCL-LCL) =製程能力O.K. (2)(USL-LSL)=(UCL-LCL) =製程能力需調整 (3)(USL-LSL)(UCL-LCL) =製程能力 N.G.,需做製程 能力之改善 (2)建立管制用管制圖 a:記入必要事項 b:做管制界限 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) C 過程控制說明 C1 首先分析『極差圖』上的資料 ◎ 任何超出管制限的點 ◎ 連續 7 個點，全在中心線之上，或連續上升 ◎ 連續 7 個點，全在中心線之下，或連續下降 可能為：模具受損或機器固定鬆動，或換班、換批 ，或量測系統改變(新人、新量具)。 平均值與極差管制圖 ( X ─ R ) ◎ 其