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利用 PerkinElmer Optima 7/8x00 系列 ICP-OES 系统通过安捷伦多模式 样品引入系统 (MSIS) 同时进行氢化物 模式和传统雾化模式测定 应用简报 作者 前言 Alejandro Amorin 氢化物发生技术通常与 ICP-OES 和 AAS 联合使用，利用氢化物发生技术对包括砷 安捷伦科技有限公司 (As)、硒 (Se) 及其他元素在内的痕量环境敏感元素进行测定，也包括通过冷蒸气技术对 汞 (Hg) 进行测定。使用氢化物发生或冷蒸气技术进行测定的优势包括提高灵敏度、简便 性，以及减少干扰，因为挥发性氢化物与样品基质得到了分离。然而，希望使用这项技 术的实验室必须采用专门的仪器测定氢化物，或关闭仪器将其转换为氢化物测定模式。 仪器一旦被转换后，必须再次切换回来才可执行其他测定。 图 1. 用于 PerkinElmer Optima 系列 ICP-OES 的安捷伦 多模式样品引入系统 （部件号 ） (MSIS) 8003–0817 安捷伦多模式样品引入系统 (MSIS) 是一种创新型选件，同时适用 于 仪器（图 ）以及安捷伦 PerkinElmer Optima ICP-OES 1 ICP-OES 和安捷伦 MP-AES 仪器。MSIS 能够在三种不同的分析模式下测 定样品： 传统雾化（图 ） • 2 氢化物发生（图 ） • 3 — • 用于同时测定可形成氢化物元素以及不形成氢化物元素的同步 雾化 氢化物发生技术（图 ） 图 2. 配置用于传统雾化模式的安捷伦 MSIS。用于还原剂和氢化法的样品管线 / 4 在此模式下被堵塞。该模式下的性能与传统玻璃旋流雾化室的性能一致 由于这一灵活性，无需关闭仪器即可在雾化室和氢化物发生附件 之间进行切换。这样可节省设置和分析时间，并帮助实验室获得 尽可能高的分析效率。使用 MSIS 进行同步氢化物发生测定更加 方便和经济。无需使用专门的氢化物系统即可对形成氢化物的元 素进行单独测量。同时测定无需使用专用于氢化物测定的第二份 样品消解液，因此还可节省时间并简化样品分析。 MSIS 的这些独特性能和分析效率优势可通过薄膜氢化物发生法 得以实现。MSIS 在传统玻璃旋流雾化室的基础上，中心配备了 垂直相对的管路。在用于单独