联用筛析法及激光法进行粒度接序分析的界点选择.pdfVIP

第32卷第3期 沉积学报 V01．32No．3 2014年6月 ACTASEDIMENTOLOGICASINICA Jun．2014 文章编号：1000—0550(2014)03—0478—07 联用筛析法与激光法进行粒度接序分析的界点选择① 冷伟 范代读 (同济大学海洋地质国家重点实验室上海200092) 摘要筛析法、激光法和图像法是三种常用的粒度分析方法，但由于测试原理的不同，三种测试方法有不同的适用 性。筛析法和图像法能够精确测量砂质颗粒的粒径，但不适用于泥质细颗粒(0．063mm)的粒径测量；相反，激光法 无法准确测量中粗砂粒级颗粒(2～0．21mm)，但能高精度测量较细沉积物粒径。分选较差的天然沉积物粒径分布范 围较广，需要综合运用筛析法一激光法进行接序粒度测试。通常选用2ETIFO为界点开展接序粒度分析，但因激光法在 测量中粗砂颗粒时误差较大，易导致接序粒度分析结果准确性不高。建议以0．21mm为分界点开展接序粒度分析，分 别避开