现代流体测试技术-考试试题.docVIP

2013-2014学年第一学期现代流体测试技术期末试题 一、什么是测量，举例说明3种流动显示技术，详述其特征。详述流动显示中的纹影法、阴影法和干涉法。 1、测量是按照某种规律，用数据来描述观察到的现象，即对事物作出量化描述。测量是对非量化实物的量化过程。?ysc区域内光强与出口处?y区域内的光强不同，设原始光强为IT，则屏幕上的光强为 ，Zsc是测试段至屏幕之间的距离，则：，光强对比度Rc在x、y方向可简化为：，阴影法是利用光线通过流场扰动区产生线位移得到的图像的对比度来显示折射场。 （3）干涉法：干涉法简单来说是根据光线穿越流场后的相位的变化来研究气体折射率的空间分布。利用光的波动性，根据光线穿越流场后相位的变化来研究气体折射率的空间分布，利用干涉图中干涉条纹的变化推算出气流密度的变化。单色平行光经过分光镜BS1分成两束单色平行光，其中一束经过平面反射镜M2直射到观察屏幕上，而另一束则经过测试段而改变相位，再依次经过反射镜M1以及分光镜BS2投射到观察屏幕上，此两束不同相位的单色光在屏幕上会合，便形成了干涉条纹，这些干涉条纹的图像与测试段的流体折射率有关，而流体折射率和它的密度成正比，因而干涉条纹的图像直接反映了流场密度的变化，干涉法采用激光光源后，由于激光的单色性好，使干涉法定量测量比较方便，设备也简单。 二、简述热线测速的测速原理。作出恒温热线和恒流热线的线路图，详述二者的工作原理及其差异。 1、热线测速是利用热线（热膜）的热损失来测量流体流速，具体做法是将通有电流的金属丝放在待测流场中，金属丝由于电流的热效应而发热，继而与周围介质之间发生热交换。当介质流速变化时，金属丝的温度随之变化，并引起测量电路参数的改变，从而使电信号体现出流速变化，热线测速的优点是：检测元件小，惯性小，频响快，灵敏度高。热线测速根据king公式来计算：。 2、恒温式HWFA原理图如下所示。恒温式是一种自动平衡电桥测量法，由于保持热线工作温度不变，流速与电压之间是单值函数关系，所以其测量精度比恒流式高很多。由于热线工作温度始终自动控制在恒定值上，只要操作得当，就不易造成仪器损坏。恒温式则具有热滞后效应很小、频响宽的优点，它可以用于测量快速变化的流场。故目前恒温式热线风速仪远比恒流式用得普遍。 3、恒流式HWFA原理图。恒流式是一种不平衡电桥测量法，电路结构更简单，电流固定不变时，随着流体流速的增大，热线上的热损耗加大，工作温度下降，造成测量灵敏度迅速降低，所以它在测量较高流速时反映就不够灵敏，尤其当流速突然下降时，由于热线上的工作电流不变，温度很高，很容易烧毁探针。因此，它不能用于流速变化比较快的场合，只适用于速度波动相对于平均速度是很小的场合。 三、简述多普勒频移测速原理。多普勒频移测速中速度的方向如何判断，简述参考光LDV的工作原理。 1、多普勒频移测速技术是一种利用流体中散射粒子或固体表面堆入射激光进行散射，并通过光电探测器测得此散射光的多普勒频移的技术，由于该散射光的多普勒频移与散射粒子的速度呈简单的线性关系，据此换算得到流体或固体表面的运动速度。光源S照射光的频率为fS、粒子P的运动速度U，则根据相对论变换公式，经多普勒效应后粒子接收到的光波频率为：，这就是运动微粒所接收到的光波频率，也即散射光的光源频率。当静止的光电检测器从某一方向上观察运动粒子的散射光时，由于它们之间的相对运动，接收到的散射光频率fd与fP之间又存在频移，它与光源频率之间的差值就是多普勒频移： 可见，如果已知光源、粒子和光电检测器之间的相对位置，就可以确定U在eP-eS方向上的投影大小，但仅据此还不能确定平面速度向量。许多情况下，速度方向往往是已知的，如有如图激光光源、粒子速度方向和光电检测器布置，可多普勒频移表达式可简化为： 2、参考光LDV：参考光技术是由于散播粒子浓度增加，直到照射光和散射光的衰减变为限制因素以前，原则上信噪比是增加的。它的工作原理描述为：将一束参考光直接照射到光电检验器，同散射光束进行光学外差，这束参考光必须与照亮运动粒子的激光来自同一光源 。由激光器发出的光束被分光镜（半透半反射境）分开，其中绝大部分用于照亮被测流体中的待测区，随流体运动的粒子产生的散射光由光电倍增管接收。从分束器出来的较弱的那束光是没有频移的参考光，它被反射镜直接反射到检测器。为方便起见，参考光路中设置了中性密度滤光片，以保证检测器上参考光与散射光的强度不会相差太大。光电倍增管的输出包含了两束光的差频信号，这就是产生了多普勒频移。 四、简述PIV测速原理，详述进行PIV速度测量中的两帧法和四帧法，PIV测速中的误差有哪些？如何克服？ 1、凡是在流体中投放粒子，并利用粒子的图像来测量流体速度的方法，通称为粒子图像测速技术（PIV）。它的原理是：在流场中布撒示踪粒子，使