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Gd掺杂YBa。Cu。一正d力,一。的微结构与临界电流密度
徐胜昊小山
南京大学固体微结构国家重点实验室,江苏南京 210093
用传统的固相反应方法制备了稀土元素Gd掺杂的YBa:Cu。一£d_107一s多晶粉末样品,
并对YBa:Cu。一GdD,s进行X射线衍射研究。详细研究了Gd掺杂对YBa。Cul,。GdL),一s
(Y一123)的晶体结构与临界电流密度的影响,并从结构的变化角度分析了掺杂
对临界电流密度的影响。对Gd掺杂诱导的临界电流密度变化表明铜氧面内的原子
结构参数的变化对临界电流密度有重要的影响。
高温铜氧化物超导体的发现对超导电性的研究领域,凝聚态物理,以致物理学和其他相
关学科,高新技术的发展正在继续产生着深远影响。在所有氧化物超导体中,以YBa。Cusot—s
最为有名,也最有应用前途…。通常人们称它为YBCO或123相比1。高温超导氧化物的掺杂
或元素替代效应是研究Cu—O高温超导体的有效手段之一。
Y一123相超导体之所以最富有盛名是因为它的相对低的晶体各向异性以及在磁场
中的良好的钉扎属性。为了提高超导体的应用,加强临界电流密度是一个最具有挑战的重要
的问题。至今,有很多尝试去通过引入钉扎中心去解决这个问题。比如,正常态掺杂,引入
点缺陷以及化学掺杂等等。引入点缺陷被认为有很多可能提高系统的钉扎力。特别是化学掺
杂通过改变化学元素及其成分多少来进一步提高高临界电流密度。
实际上,有许多报道化学掺杂提高YBCO的钉扎力D州。Muralidhar等人报道Nd,
Eu,及Gd三种稀士离子的混合在YBCO的Y位上获得临界电流密度Z明显提高协1。此外,在
YBCO的Cu上掺Zn的也明显提高上。
流密度的作用。本文首先确定了YBazCua~石dD,一s的晶体微观结构,并确定Gd取代了Cu位,
对原子结构参数产生影响。然后,通过SQUID测量样品的磁性,确定Z,并研究结构对其的
影响。
样品用传统的州态反应方法来制备。根据化学式YBazCu,石dD,。中的x=O,0.02,0.03,
研磨混合粉末,并压成片,在空气中预热到930度,持续24小时后将其冷却到火炉温度,
..356.
然后,将反应物压成片状样品。将上述过程重复一遍。再在有氧流动的空气中920度烧结
24小时。然后,烧结温度以每分钟一度的的速度慢慢降到400度。在此温度保持24小时后,
将样品冷却到室温。最后从炉中取出放入干燥器,保护样品。
●
样品的结构和相的纯度用12kWk,一rB粉末X射线衍射仪来检测。衍射仪的源,是Rigaku
ka
旋转阳极Cu X射线源。Cuka,和kaz的波长分别取的是1.5406A和1.5444A。其强度
描得到的。扫描的步长尺度是0.02度,每点的计数时间是5秒。用于粉末衍射数据全谱拟
合的Rietveld方法在参考文献妇1中有详细的描述,按照标准的程序获得参数¨…。反射峰型
可用Psedo—Voigt来函数描述n¨。
临界电流密度正由磁曲线决定。磁曲线的测量是通过超导量子干涉仪(SQUID)来获得。根
据Beann21模型J,.zfM,/亿。以)。岛平均的离子半径,在这里取5|lm,z3M,是彤倒曲线
的上下分支n3叫刖。
2结果与讨论
2.1 Rietveld方法
Rietveld方法…1是计算强度数据以一定的峰形函数与实验强度数据拟合,拟合过程中
不断调整峰性函数和结构参数的值,直到计算强度数据与实验数据的差最小。拟合一般采用
二乘方法,数学算式为:
2
M=∑(‘’i(、yi—Kb
使朋最小的过程就是峰形和晶体结构的精修过程.式中,求和便及所有强度数据点.乃
步进扫描每一点的强度数据,弦,是计算强度数据,∞,为权重冈子,一般取为_?锄.
月,的计算公式为:r.F毋三厶肥彦驴留口,一2口∥蹦,手虼,式中求和遍及各已知物相.毋
为/相的标度因子;k代表Bragg衍射的密勒指数,从J?厶包括Lorentz因子,极化因子,
多重散射因子;西是衍射峰的峰形涵数:2矽衍射角;尸^择优取向修正:凡为Bragg衍射
的结构因子:A,是-,相的微吸收较正相;既,为背景强度。
这些因子所包含的参数可分为两类:晶体结构参数和峰形函数。晶体结构参数主要反
映晶体结构,如原子位置,位置占有率,温度因子,晶
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