XD3A X光衍射仪计算机采样检索在教学上的应用.pdfVIP

XD-3A X光衍射仪计算机采样检索在教学上的应用 陆荟君陈艳朱永强 (复旦大学物理系上海200433) 摘要：以X光的衍射理论为基础，利用为x射线衍射仪微机化升级改造所设计的数据采集与 分析系统——XRDS系统对粉末及块状样品进行扫描及检索，通过衍射图谱及检索结果 研究材料的成分及其内部结构。 —m—L 一、日U舀 从1985年由德国物理学家伦琴发现了X射线，第二年就通过拍摄X射线照片来研究不 透明物体的内部结构，到1912年劳厄等人证实了X射线的衍射作用，知道了X射线是一种 电磁波，最终为研究物质的精细结构提供了新的方法。现在，X射线衍射法已经被广泛地用 于冶金、机械、化工、硅酸盐、土壤等工农业经济部分的科研和生产，与物理、化学、材料 科学及工程等研究领域关系都十分密切，我们可利用它来测定点阵常数、单晶体取向、晶体 结构、晶粒大小以及晶体中的残余应力和点阵变形等。 我们知。道，凡是结晶物质，都具有其特有的晶体结构类型。它的晶胞大小、晶胞中所含 原子、离子或分子的数目以及它们在晶胞中所处的相对位置也各具有其特性，在X射线的照 射下，会呈现出具有各自的衍射特征物