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温度对Si衬底上低压MOCVD外延生长ZnS薄膜质量的影响-发光学报
21 1 Vol.21, No. 1
2000 3 CHINESE JOURNA OF UMINESCENCE Mar. , 2000
温度对 衬底上低压 外延生长
Si MOCVD
ZnS 薄膜质量的影响
赵晓薇, 张吉英, 杨宝均, 范希武, 羊 亿, 申德振
( , , 130021)
: MOCVD ( 111) Si , (/ ) 300400
ZnS , ZnS , 300
( 111) ZnS
: ZnS ; Si ; M OCVD
: O484. 1: A: 1000-7032(2000) 01-0006-05
[ 1, 8]
, GaAs,
1 引 言
GaAs
Si MOCVD ( 111) Si
, , , /
( 300400 ) ZnS ,
, X-ZnS
, Si
[ 15]
2 实 验
-ZnSZnSe
, - , 1 /
( EDS) MOCVD MO
( D) , Si ,
- ,
, ZnS , ,
Si , 0.4%
Si ZnS , ,
0. 110104 Pa
2
Si ZnS 2020mm ,
[ 4]
Wirthl ( MBE) , 1
Si ZnS , ( DMZn)
[ 6]
; Yokogawa ( H2S)
( - ) ,
P MOCVD Si
ZnS ZnS-ZnSe
[ 7]
, ; ee
Si
ZnS ,
Si - 1MOCVD
GaAs , Fig. 1Schematic drawing of P-MOCVD apparatus.
: 1999-02-09; : 2000-01-12
: ( , ,
: ( 1974- ) , , , , -
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