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材料研究方法 1、光学显微分析技术： 光率体 定义: 为了反映光波在晶体中传播时，其偏振方向与折射率值之间的关系，所建立的抽象立体几何图像的光性指示体。其做法是设想自晶体中心起，沿光波的各个振动方向，按比例截取相应的折射率值，在把各个线段的端点联系起来。实际上光率体是利用晶体各个不同方向上的切片，在折光仪上测出各个光波振动方向上的相应折射率值所作的立体图。 应用单偏光与正交偏光下的晶体光学性质 单偏光下晶体光学性质：晶体形态：自行晶，半自行晶，他形晶，突起，贝克线，贝克线移动规律，糙面，颜色：多色性，吸收性 正交偏光下晶体学性质：消光，四次消光，干涉，干涉色及色谱表，补色法则和补色器（石英楔的使用方法），消光类型，延性符号。 ★正交偏光下的干涉现象及光率体性质鉴定、晶体光学与轴性的鉴定 光率体鉴定即轴性、光型、切片类型的鉴定：要熟悉各种光率体在锥光镜下的的干涉图样。P33-37。 1.4 锥光镜的特点：锥光镜的特点，什么是干涉图，有什么作用？ 1）聚光镜的作用: 使平行偏光变成锥形偏光。 2) 勃氏镜或取去目镜作用: 放大干涉图。 3）高倍物镜作用: 使图象更清晰。 加入勃氏镜或去掉目镜的作用锥光镜下观察到的干涉图，其成象位置在物镜的后焦平面上，去掉目镜，能直接观察镜筒内物镜的后焦平面上的干涉图实象，其图形虽小，却很清晰。 不去掉目镜，则必须推入勃氏镜才能看到干涉图.此时，勃氏镜与目镜联合组成一个宽角度望远镜式的放大系统，其物镜前焦平面恰在干涉图的成象位置，可看到放大的干涉图图象。其图形虽大，但较模糊。 在锥光镜下观察到的是锥形偏光束中, 各个不同方向的入射光波，通过晶体到达上偏光镜后产生的消光和干涉现象的总和,它们构成一种特殊的图形, 称为干涉图 (干涉象). 观察干涉图应注意的问题： （1）首先使用低倍或者中倍物镜找到所需观察的矿物颗粒，置于视域中心后，换用高倍物镜。 （2）换用高倍物镜后，检查是否已准焦，准焦应注意物镜不要与薄片相碰。 （3）加上载物台下的聚光镜后，要把聚光镜上升到最高位置，但不要与薄片相碰。 （4）检查高倍物镜是否需要校正中心。 （5） 干涉图是消光和干涉效应的总和。 1.5 一轴晶干涉图： 1、 垂直光轴切面的干涉图 ⑴ 图像特点 ① 由黑十字和同心圆状的干涉色色圈组成，黑十字交点位于十字丝中心。 ②干涉色色圈以黑十字交点为中心，成同心环状。干涉色圈的多少，取决于矿物双折率的大小及矿片厚度。③ 转动物台360°,干涉图不发生变化。 应用 1、确定轴性和切面方向 根据图像特点,可确定为一轴晶垂直光轴的切面。 测定光性符号 Ne=Ng ，NeNo：正光性 Ne=Np ，NeNo：负光性 3、加入试板判断光性正负：鉴定光型正负时，插入试板即补光器时， 正光性 一三象限干涉色升高；二四象限干涉色降低 负光性 一三象限干涉色降低； 二四象限干涉色升。 斜交光州切片干涉图： 光轴在切片平面的出露点不在视野中心。因此转动载物台时，黑十字绕是与中心做圆周运动。当光率体光轴与镜筒中心轴夹角较大时，光轴出露点落在视域之外，只能看见黑十字中的黑壁平行移动并交替出现在视域中。 平行光轴干涉图： 平行光轴切片干涉图完全不同于前两者。当光轴与上下偏光镜振动方向之一平行时，视域中大部分光率体椭圆半径与上下偏光镜振动方向平行或近似平行。视域中为一粗大而模糊的黑十字，几乎占满视域，只在四个象限边缘出现干涉色.稍转物台（12o-15o），黑十字从中心分裂，并沿光轴方向迅速逸出视域,因变化迅速,故称为瞬变干涉图或闪图. 1.6 二轴晶干涉图： 1 、垂直锐角等分线(⊥Bxa)切面的干涉图 ⑴ 图像特点 ① 当光轴面与上下偏光镜振动方向之一平行时，干涉图由黑十字和“∞”干涉色圈组成，干涉色圈的多少，取决于矿物双折率的大小及矿片厚度② 转动载物台，黑十字从中心分裂形成两个弯曲的黑带，当光轴面与上下偏光镜振动方向成45°夹角时，两个弯曲的黑带顶点之间距离最远。③ 转动载物台90°时，弯曲黑带又合成黑十字，但其粗细黑带已更换了位置。（4）二轴晶垂直Bxa切面干涉图在45o位时光率体椭圆半径的分布及光性符号的测定。（5)估计光轴角的大小；当光轴面与上下偏光镜振动方向成45°夹角时，黑带的弯曲程度与光轴角大小成反比，光轴角愈大，黑带的弯曲程度愈小。 2 垂直钝角等分线Bxo切面的干涉图： 当光轴面与上、下偏光镜振动方向之一平行时，为一粗大的黑十字，黑十字交点为Bxo出露点，光轴出露点在视域之外。转动物台，黑十字很快地分裂成两个弯曲黑带，沿光轴面