一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案.pdfVIP

第40卷 第3期 计 算 机 工 程 2014年3月 V_01．40 No．3 ComputerEngineering M arch 2014 · 开发研究与工程应用 - 文章编号：1000—3428(2014)03—0310-05 文献标识码：A 中田分类号：TP306 一 种结合硬件特征的并行内存故障检测方案 胡 蝶 ，吴俊敏 ， (1．中国科学技术大学计算机科学与技术学院，合肥 230027；2．中国科学技术大学苏州研究院，苏州 215123) 摘 要：针对March类内存检测算法越来越复杂、检测时间越来越长，且更适用于对嵌入式内存芯片的检测等问题，提出一种结 合硬件特征的并行内存故障检测方案。该方案包括2种并行检测方法：(1)根据DDR2的结构和工作原理设计的芯片级并行，可以 并行检测一个DDR2内部的多个内存芯片。(2)根据访存控制器的结构和工作原理设计的访存控制器级并行，可并行检测多个DDR2 内存条。对于芯片级并行，访存带宽越大，即并行检测的芯片个数越多，并行效果越好，从 1个芯片到并行检测 8个芯片，内存 的检测时间几乎是呈线性递减的。对于访存控制器级并行，访存控制器数量越多并行效果越好，从 1个 LMC到2个 LMC，内存 的检测时问几乎减少了一倍。实验结果表明，2种并行检测方法不仅能够成倍加快检测速度，而且更适用于用户对内存的检测。 关健词：故障模型；March算法；DDR2内存条；芯片级并行；访存控制器级并行 A ParallelM emoryFaultDetectm‘nScheme CombinedwithHardwareCharacteristic HU Die．W U Jun-min ‘ (1．SchoolofComputerScienceandTechnology，UniversityofScienceandTechnologyofChina，Hefei230027，China； 2．SuzhouInstituteforAdvancedStudy,UniversityofScienceandTechnologyofChina，Suzhou215123，China) IAbstraet]Marchalgorithmsaredesignedverycomplex，andtheyaredesignedtobeusedtotestmemorychips，doesnotapplytothe user．Inordertosolveaboveproblems，thispaperpresentsaparallelmemory testmethodwhichutilizesthehardwarefeautres．Jtincludes twoparallelmethods：oneischips—levelparallelmethodwhichisdesignedaccordingtotheworkingprincipleofDDR2，anditcandetect severalmemorychips．TheotherisLocalMemory Controller(LMC)一levelparallelmethodwhichisdesignedaccordingtotheworking principleofmemory controller,anditcandetectseveralDDR2memories．Forchips—levelparallelmethod，ifmorechipscanbetested，the testtimeisfaster．Fromtestingonechiptoeightchips，thetesttimeisalmostlinearlydecreasing．ForLMC—levelmethod，iftherearemore LMCs，thetimeisfaster．From oneLMC totwoLMCs，thetesttimeisre