关于购置离子阱气相色谱质谱联用仪的论证报告.pdfVIP

购置离子阱质谱的论证报告 购置离子阱质谱的论证 残留化合物分析具有较高的难度。其原因主要为待分析的样品基质成分复 杂，样品种类繁多，不同基质产生不同类型的干扰。另外，待测残留物的相对含 量较低，往往为奈克级，这就决定了残留分析方法必需能够从复杂的基质样品中 将微量的物质检测出来，并对其加以准确的定性和定量。当前，对于复杂基质中 残留物检测的 GC/MS 检测手段为单四极质谱的选择离子检测（SIM）和离子阱 质谱的多级质谱检测（MS/MS ）。 SIM 通常选择 3～4 个特征离子进行扫描，可获得较高的灵敏度，但由于质 谱图所提供的离子信息少，使定性结果存在一定的不准确性。因此，为了得到理 想的结果，需要将离子丰度比和保留时间信息一同作为定性标准，当未知化合物 与农药标准品保留时间偏差小于 10 s，同时二者碎片离子丰度比偏差小于20 ％ 时，才可以对未知物加以确证。 为了有效地满足确证条件，就需要在残留分析的SIM 检测方法上花大量的时 间和精力。通常在进行方法开发时，根据目标化合物及空白样品在相同保留时间 处的质谱图，进行离子的筛选分析，确定最终的扫描离子。然而，在进行残留分 析时、特别是农药残留分析时，样品种类繁多，对每一种待分析样品进行背景扣 除，必然要花费巨大的人力和时间。