材料化学5课件.ppt

材料结构的表征;?现代材料科学在很大程度上依赖对材料化学的组成、微观结构和性能关系的理解。 ?对材料性能测试以及对材料化学组成、材料结构从宏观到微观不同层次表征，构成了现代材料化学的一个重要部分，也是联系材料设计与制备直到获得具有满意使用性能的材料之间的桥梁。 ?现代科学技术提供了一系列描绘材料化学组成和微观结构的方法，即材料结构的表征技术。;材料化学组成的表征 化学组成是决定材料性质的最基本因素。除主要化学成分外，次要成分、添加剂以及杂质等的种类、含量及分布情况和结构状态对材料制备工艺和材料性能的影响极大。;材料化学组成的表征 1) 化学分析法 化学分析法是利用化学反应产生的效果来对试样进行定性和定量分析的，例如利用中和、沉淀、络合等化学反应产生的效果来测定物质含量及元素是否存在。化学分析法是标准的成分分析方法之一，具有足够的准确性和可靠性;材料化学组成的表征 2）仪器分析法 仪器分析法是利用待测试样组分的光学、电化学等物理和物理化学性质来进行分析的方法。利用仪器分析法可以测得微量组分或杂质元素的种类、含量、价态和分布特征。仪器分析法大多需要精密而复杂的仪器。;材料结构的表征 1、晶体结构的研究和表征 所以测定点阵常数，可以帮助我们了解晶体内部微小的变化以及它们对材料特性产生的影响。晶体结构、点阵常数可用X射线衍射和电子衍射等实验手段进行研究和表征。;2、材料显微结构的研究 材料显微结构受材料化学组成、晶体结构和工艺过程等因素影响，它与材料性能有密切关系，从某种意义上说，材料显微结构特征对材料性能起着决定性作用。;2、材料显微结构的研究 材料显微结构研究总的来说应包括以下主要内容： (1) 形貌观察及物相(组成、含量)分析； (2) 晶体结构(类型、点阵常数)的测定； (3) 固体结合键的类型及键力大小； (4) 杂质含量及分布情况； (5) 晶粒形态、大小、取向及其分布特征； (6) 晶粒中的晶格畸变和缺陷情况； (7) 晶体结构和畴结构及其分布特征； (8) 材料的应力状态及应变。;3、材料宏观性能测试也是判断材料结构所必要而常用的方法。 性能测试、形貌观察、结构测定和成分分析及其综合研究是现代材料结构表征的主要内容。;材料结构表征基本步骤和方法 1、利用化学分析、光谱分析和X射线粉末衍射及性能测试进行分析鉴定，即对未知固体物质作出鉴定。 2、测定结构，如果结构未知，对于分子型材料，其几何学的细节可以从进一步的光谱测量中获得，如果材料是晶态的，则可以应用X射线结晶学等方法取得其晶体结构方面的信息。;材料结构表征基本步骤和方法 3、在对固体材料进行组成鉴定和结构测定(晶态、非晶态)之后，进行下列工作： (1)材料是晶态，则确定是单晶还是多晶，如果是后者则要知道晶粒数目、大小、形状和分布情况； (2)晶体结构类型、点阵常数等； (3)晶体缺陷性质、数目和分布及晶格畸变情况； (4)固体中结合键类型和键力大小； (5)杂质含量及分布情况； (6)表面结构，包括任何组成上非均匀性或吸附表面层。;材料结构表征基本步骤和方法 能用于材料检测鉴定现代技术很多，但最重要最常用是衍射技术、显微技术、光谱技术、热分析技术以及磁性测量技术等。;;X射线衍射(XRD)法 1) 基本原理 X射线是一种波长很短(约为10–6cm)的电子辐射。衍射实验中应用的多为单色X射线，它们是通过一系列不同的过程产生的。当一束被加速了的高能(30keV以上)电子打在材料靶上，电子被急剧减速而发射电磁波(连续X射线)。此外还有一部分高速电子打中了靶材原子的内层电子(通常是K层电子)并使其电离，其他层电子则填充内层空穴，也能发射X射线(称为次生X射线)，其波长由靶极及涉及的跃迁能级决定。;X射线衍射(XRD)法 1) 基本原理 例如，以铜为靶，若在其K层上打出一个电子，L层电子填充这一空穴时产生2条能量极相近的X射线， 相应的跃迁为 (8.05keV)和 (8.03keV)，其强度为2:1，加权平均波长为0.15148nm，这种单色X射线称为特征X射线。特征X射线波长确定，强度大，常用于X射线衍射技术中。铬、铁、钼、银等也可作产生特征X射线的靶金属。;X射线衍射(XRD)法 1) 基本原理 X射线投射到晶体上，主要与晶体中的电子发生相互作用，除产生光电效应、康普顿效应（非相干散射）外，还可发生相干散射产（散射的X射线与入射X射线有相同的波长和相同的位相）。由于晶体具有点阵结构，由各晶胞散射的X射线在空间给定方向上存在固定的光程差。当等于波长的整数倍时，各次波之间有最大程序的相互加强。;X射线衍