第三章 XRD-1-fuxn.pptVIP

1. 概述 X射线光谱技术是利用物质中元素被X射线激发所产生次生特征X射线谱(荧光)的波长和强度分析物质的化学组成。X射线光谱技术也称X射线荧光分析。 1. 概述 X射线衍射技术(XRD)是利用X射线在晶体、非晶体中衍射与散射效应，进行物相的定性和定量分析、结构类型和不完整性分析的技术。X射线衍射技术是目前应用最广泛的一项技术。 1. 概述 随着科学技术的发展，X射线衍射仪及配套的一系列分析设备得到不断改进和完善，促使X射线分析技术的新理论、新技术不断涌现。在原来X射线技术的基础上又形成了四种新技术。 1. 概述 这四种新技术是：扩展X射线吸收精细结构分析技术(Extended X-ray Absorption Fine Structure，简称EXAFS)；X射线漫散射及广角非相干和小角相干、非相干散射技术；X射线光电子能谱(XPS)分析技术；X射线衍射貌相术(X-ray Diffraction Topography)。 1. 概述 X射线吸收谱技术是利用X射线穿过试样后，在吸收限高能侧(30～1000eV范围内)显示程度不同的强度振荡现象，由EXAFS谱的傅里叶变换得到近邻原子的间距、配位数和无序度等结构信息。 1. 概述 X射线漫散射及广角非相干和小角相干、非相干散射技术是利用晶体不完整性(畸变、缺陷、原子热运动等)使衍射强度减弱及出现漫散射或衍射线宽化现象，研究这些漫散射几何及强度，可以了解晶体点阵中缺陷的状态或其统计分布规律。 1. 概述 当X射线与物质相互作用时，X射线光子可能受到物质中电子的散射。利用X射线小角散射(SAXS)理论，可研究分散在另一均匀物质中尺度为零点几纳米到几百纳米散射中心(如纳米粉、薄膜、有机大分子等)的形状、大小和分布。 1. 概述 X射线光电子能谱(XPS)技术是利用X射线激发样品表面原子的光电子，根据来自不同原子的不同能级光电子的动能及强度，可推算出这些电子原来在原子内的结合能，从而能够根据不同原子的特征能级判断表面的元素组成，并可通过结合能的变化，研究原子周围的化学环境、化学位移及分子结构。 1. 概述 X射线衍射貌相术是利用近完整晶体的完整区与缺陷区X射线衍射强度的差异或晶体不同区域衍射方向的差异，显示晶体内部缺陷的分布、形状、性质和数量。 1. 概述 X射线衍射貌相术能对大块单晶样品作无损整体检测，从而获得位错的类型、组态、密度、柏氏矢量和应变等信息。这对检测半导体、激光、红外线及光电检测器等各种新技术领域所用单晶材料的质量非常有利。 1. 概述 由于X射线的波长位于0.001～l0nm之间，与物质的结构单元尺寸数量级相当，因此X射线技术成为物质结构分析的主要分析手段，广泛应用于物理学、化学、分子物理学、医学、药学、金属学、材料学、高分子科学、工程技术学、地质学、矿物学等学科领域。 1. 概述 在众多的衍射和散射分析方法中，作为常规的分析测试手段，使用最多和最广泛的是X射线衍射技术(XRD)。X射线物相分析是利用X射线衍射技术来鉴定和研究单晶或多晶的方法。 1. 概述 结晶物质可以是单晶或多晶。大多数由粉末制成的材料(如陶瓷、高分子材料和金属)是多晶体。对应单晶或多晶物相分析有单晶X射线衍射法和多晶(或粉晶、粉末)X射线衍射法。 1. 概述 一般而言，单晶衍射图比较简单，但材料科学中许多材料很难制成单晶，所以，不得不用粉晶衍射法来研究。本章重点介绍粉晶X射线研究方法。 1. 概述 物相是元素按一定连接方式组成具有一定结构的物质，一般指材料中各种不同的晶相、同质多晶体、化合物、杂质、固溶体等。 1. 概述 而对单质元素，若只有一种晶型，则物相指元素，因为此时元素就是物相；若同一元素有多种晶型，则物相指同质多晶体。 1. 概述 例如，Al2O3或SiO2均有多种晶型，这些同质异构体属于不同物相，其晶体结构不同，故有不同的衍射特征。 1. 概述 只有用X射线衍射物相分析方法，才能确定各种不同的晶型。所以X射线衍射物相分析方法在材料科学领域及其他领域中得到广泛应用。 1. 概述 X射线物相分析不能直接测定出所鉴定物相的化学成分及各种元素含