平流式流动电位测试系统的研制-分析化学.PDFVIP

第$A 卷 分析化学（CMPQ +RSPRM ） 仪器装置与实验技术 第!% 期 #%%: 年!% 月 .8F(6( T/3EF*, /G SF*,L)84*, .(-86)EL !@% U !@!% 平流式流动电位测试系统的研制 ! # # # !，# # 汪锰 吴礼光 莫剑雄 郑幸存 高从! ! （浙江大学材料与化学工程学院，杭州$!%%# ） # （国家海洋局杭州水处理研究开发中心，杭州$!%%!# ） 摘 要 分离膜表面的荷电化显著地影响着膜的分离性能和耐污染能力。因此，定量化表征膜表面电性能 具有重要的理论价值和实际意义。作者在前期透过式膜流动电位测试系统研发工作的基础上成功地研制了 平流式流动电位测试系统，并且首次将恒电流法测膜体电导引入膜表面! （’()* ）电位的确定过程中。以自制 不同共混比的合金荷电膜为测试对象，利用该测试系统和经典的+(,-./,)012-/,34./5678 （+12 ）方程及其变体 得到了不同9+ 下的膜表面’()* 电位，从而揭示了膜表面电导、膜体电导对膜表面’()* 电位的贡献，并展示了 该流动电位测试系统的有效性。 膜体电导 关键词 平流式流动电位，（’()* ）电位，荷电膜，膜表面电导， ! ! 引 言 众所周知，分离膜表面的荷电化显著地影响着膜在使用过程中的多方面性能，例如膜的水通量、截 留率和耐污染能力等。因此，如何定量化表征膜表面电性能一直是研究的热点。鉴于膜表面的固有电 势不可能直接测定，所以人们一般通过确定膜表面的’()* 电位来间接表达。通过膜流动电位、电渗［!］、 ［# ］ ［$ ］ ［A ］ ［@ ］ ［: ］ 电泳 、电粘性 、膜孔内电导变化 、膜孔表面离子吸附量 以及膜盐截留 等多种测定方法计算膜 表面’()* 电位已经相继得到开发和使用。其中，通过测定膜的流动电位来计算其相应的’()* 电位得到 了最为广泛的重视和使用。膜流动电位的产生一般 有以下两种方式：电解质溶液穿过膜孔产生电位［ ］ ［J ］ 和电解质溶液从膜表面平行流过产生电位 。前者 简单易行，但其给出的数据是膜皮层、过渡层和支撑 层等方面的综合信息不适合针对膜表面电性能给予 表征；后者是电解质溶液在压力驱动下平行地从膜 表面流过产生电位，故由其计算得到的’()* 电位则 能真正地反映膜表面电性能。 根据经典 K/3L1.*9-*F12)(EF1KE*.*-( （K1 图! 膜B 电解质溶液界面电荷分布示意图 2K ［; ］模型，当膜与电解质溶液接触时，固液相界面 ） C8D= ! 24.(-*)84 E(9E(6(F)*)8/F /G ).( 4.*ED( H86)E8I3)8/F 呈现出与液相主体不同的电荷分布（如图! ）。膜表 /F -(-IE*F( 63EG*4( 面分布着一层解离的功能基团和从溶液中吸附而来的离子（主要是阴离子）。为了保持电中性，水合的 反离子则相应地吸附于其外侧。于是，决定膜表面动电学性能的双电层（MNO ）在固液界面处得以形成。 与不可移动的双电层内部电荷不同的是，位于双电层外部滑动面（6.(*E 9,*F( ）上的反离子在压力驱动 下发生移动，并在低压侧得以积累，于是形成了一个电流方向与主体溶液电流方向相反的电场。当正反 两向电流趋于平衡时，就得到了该压力差下的流动电位，进而根据经典的+12 方程计算得到’()* 电位。 本实验在前期透过式膜流动电位测试系统［ ］的基础上成功地研制了平流式流动电位测试系统