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  • 2017-11-30 发布于江西
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正交试验设计与数据处理在食品科学技术研究中的应用.doc

正交试验设计与数据处理在食品科学技术研究中的应用

正交试验设计与数据处理在食品科学技术研究中的应用 学院: 班级: 姓名: 学号: 日期: [摘要] 数据处理是指从获得的数据得出结果的加工过程,包括记录,整理,计算,分析等处理方法。就是用简明而严格的方法把实验数据所代表的事物内在的规律提炼出来。本文介绍了正交试验设计的方法,并举例说明了该方法在食品科学中的应用。 [关键词]试验设计方法;正交试验;在食品科学技术研究中的应用 试验设计是数理统计学的一个重要的分支。多数数理统计方法主要用于分析已经得到的数据,而试验设计却是用于决定数据收集的方法。试验设计方法主要讨论如何合理地安排试验以及试验所得的数据如何分析等。 试验设计方法常用的术语定义如下。 ?试验指标:指作为试验研究过程的因变量,常为试验结果特征的量(如得率、纯度等)。例1的试验指标为合格产品的产量。 因素:指作试验研究过程的自变量,常常是造成试验指标按某种规律发生变化的那些原因。如例1的温度、压力、碱的用量。 水平:指试验中因素所处的具体状态或情况,又称为等级。如例1的温度有3个水平。温度用T表示,下标1、2、3表示因素的不同水平,分别记为T1、T2、T3。 常用的试验设计方法有:正交试验设计法、均匀试验设计法、单纯形优化法、双水平单纯形优化法、回归正交设计法、序贯试验设计法等。可供选择的试验方法很多,各种试验设计方法都有其一定的特点。所面对的任务与要解决的问题不同,选择的试验设计方法也应有所不同。由于篇幅的限制,我们只讨论正交试验设计方法。正交试验设计包括两部分内容:第一,安排试验方案;第二,分析试验结果。一、安排试验方案第一步,明确试验目的,确定试验指标,挑选因素选取水平。   根据实际情况确定需要解决的问题及相应的试验指标后,分析影响该项指标的各种因素,排除那些影响不大或已经控制得较好的因素,挑选那些可能有较大影响但又没有把握的因素进行考察。第二步,用正交试验法安排试验。使用正交表这一工具来进行整体设计、综合比较、统计分析,通过较少的试验次数,达到找出最佳生产工艺效果来。根据因素和水平的多少以及试验工作量的大小来确定试验的次数,即确定使用那张正交表。例1? 某化工厂想提高某品的质量和产量,对工艺中三个主要因素各按三个水平进行试验(见表1)。试验的目的是为提高合格产品的产量,寻求最适宜的操作条件。 表1? 因素水平 水平 因素 温度 压力Pa 加碱量kg 符号 T P M 1 2 3 T1 (80 ) T2(100) T3(120) p1(5.0) p2(6.0) p3(7.0) m 1(2.0) m2(2.5) m3(3.0) 很容易想到的是全面搭配法方案(如图1所示): 此方案数据点分布的均匀性极好,因素和水平的搭配十分全面,唯一的缺点是实验次数多达33=27次(指数3代表3个因素,底数3代表每因素有3个水平)。因素、水平数愈多,则实验次数就愈多,例如,做一个6因素3水平的试验,就需36=729次实验,显然难以做到。因此需要寻找一种合适的试验设计方法。 ? 图1? 全面搭配法方案 先固定T1和p1,只改变m,观察因素m不同水平的影响,做了如图2(1)所示的三次实验,发现 m=m2时的实验效果最好(好的用 □ 表示),合格产品的产量最高,因此认为在后面的实验中因素m应取m2水平。 ?图2? 简单比较法方案情案 试验号 列号 1 2 3 4 因素 温度℃ 压力Pa 加碱量kg ? 符号 T p m ? 1 2 3 4 5 6 7 8 9 ? 1(T1) 1(T1) 1(T1) 2(T2) 2(T2) 2(T2) 3(T3) 3(T3) 3(T3) 1(p1) 2(p2) 3(p3) 1(p1) 2(p2) 3(p3) 1(p1) 2(p2) 3(p3) 1(m1) 2(m2) 3(m3) 2(m2) 3(m3) 1(m1) 3(m3) 1(m1) 2(m2) 1 2 3 3 1 2 2 3 1 例2 为提高真空吸滤装置的生产能力,请用正交试验方法确定恒压过滤的最佳操作条件。其恒压过滤实验的方法、原始数据采集和过滤常数计算等见《过滤实验》部分。影响实验的主要因素和水平见表3(a)。表中Δp为过滤压强差;T为浆液温度;w为浆液质量分数;M为过滤介质(材质属多孔陶瓷)。 ?解:(1)试验指标的确定:恒压过滤常数K(m2/s) (2)选正交表:根据表3(a)的因素和水平,可选用L 8(4×24)表。 (3)制定实验方案:按选定的正交表,应完成8次实验。实验方案见表3(b)。 (4)实验结果:将所计算出的恒压过滤常数K(m2/s)列于表3(b)。 ??? ???????????????????表3(a) 过滤实验因素和水平 因素 压强差/kPa 温度/℃ 质量分数 过滤介质 符号 Δp T w M

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