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品管部SPC作业指导书
1.0 目的:
了解过程变差,以帮助达到统计控制状态。
2.0 定义:
2.1 SPC------英文Statistical Process Control的字首简称,即统计过程控制。SPC就是应用统计技术对过程中的各个阶段进行监控,从而达到改进与保证质量的目的。SPC强调全过程的预防。
2.2 控制图------对过程质量加以测定、记录从而进行控制管理的一种用科学方法设计的图。图上有中心线(CL)、控制界限(UCL)和下控制界限(LCL),并有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列。一R 控制图)、不合格品率的P-Chart控制图、CPK的运用。
4.0 职责:
4.1 品管部现场QC负责收集数据绘制图表;
4.2 品管员负责输入SPC软件,品质主管分析过程控制能力。
5.0 作业内容:
5.1? 一R控制图 对于计量值数据而言,这是最常用最基本的控制图。它用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间和生产量等计量值的场合。
控制图 主要用于观察分布的均值的变化,R控制图用于观察分布的分散情况或变异度的变化,而一R图则将二者联合运用,用于观察分布的变化。
P控制图 用于控制对象为不合格品率或合格品率等计数值质量指标的场合。这里需要注意的是,在根据多种检查项目总合起来确定不合格品率的情况,当控制图显示异常后难以找出异常的原因。因此,使用p图时应选择重要的检查项目作为判断不合格品的依据。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率等等。
5.2 一R控制图的制作:
步骤1: 记录原始数据;
● 试生产时至少需记录25组数据,每组5个数据,以作一张完整的一R控制图;
● 批量生产时由现场QC每两小时测量一次,每次记录5个数据。
步骤2: 计算样本均值;
=(X1+ X2+。。。+ Xn)/n
式中:X1,X2。。。为子组内的每个测量值。n为子组的样本容量。
步骤3: 计算样本极差R;
R= X最大值- X最小值
步骤4: 计算样本总均值与平均样本极差;
= =
步骤5: 计算R图与图的控制界限。
计算一R图应该从R图开始,因为图的控制界限中包含,所以若过程的变异度失控,则计算出来的这些控制界限就没有多大意义。
R图的控制界限计算公式如下:
UCL=
CL=
LCL=
图的控制界限计算公式如下:
UCL=+
CL=
LCL=-
式中,系数A2、D3、D4见计量值控制图系数表如下:
n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31
* 对于样本容量小于7情况,LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有极差的下控制限,这意味着对于一个样本数为6的子组,6个“同样的”测量结果是可能成立的。
第一次制作控制图时,控制界限的确定:
R图的控制界限以开始的5组数据计算,计算公式同上;
图的控制界限以规格的上限作为UCL,规格的下限作为LCL,标准规格作为CL;
注:为了再次强调生产现场的所有控制的控制图的应用,还没有计算控制限(由于没足够的数据)的初期操作控制图上应清楚地注明“初始研究”字样。这样,这些标有“初始研究”的控制图,不论是用于能力的初次确定还是用于过程经过改进/改变后在研究,是仅允许用在生产现场中还没有控制限的过程控制图。
步骤6: 标注控制图的刻度;
步骤7: 将均值和极差画到控制图上。
● 重新计算控制限:
在进行初次过程研究或重新评定过程能力时,要排除已发现并解决了的特殊原因的任何失控的点,重新计算新的过程均值、平均极差()和控制限,并画下来,确保当与新的控制限相比时,所有的数据点看起来都处于受控状态,如有必要,重复识别/纠正/重新计算的过程。
5.3 不合格品率的P-Chart控制图的制作:
当控制图的控制对象为不合格品率时,过程处于稳定状态是指任何单位产品不合格品的概率为一常数P且所生产的各个单位产品都是独立的。样本不合格品率p定义为样本不合格品数D与样本大小n的比值,即p=D/n
P-Chart制作步骤:
步骤1: 收集数据即产品不合格数检验;
每送检一次由QA检验后记录一
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