SPC统计技术培训教材.ppt

SPC：统计过程控制 美的空调品质统括部 2004年7月 两种错误造成的损失示意图 第五章 控制图的判断准则 0σ 1σ 3σ 6σ 2σ 两种错误损失合计 第二种错误损失 第一种错误损失 分析用控制图 分析以下两个问题： 1、所分析的过程是否为统计控制状态？ 2、该过程的过程能力指数(Process Capability Index)是否满足要求？荷兰学者维尔达(S.L.Wievda) 把过程能力指数满足要求称作技术稳态。 第五章 控制图的判断准则 技术控制状态 统计控制状态 统计控制状态 是 否 技术稳态 是 I II 否 III IV 状态I：统计控制状态与技术控制状态同时达到，最理想。 状态II：统计控制状态未达到，技术控制状态达到。 状态III：统计控制状态达到，技术控制状态未达到。 状态IV：统计控制状态与技术控制状态均未达到，最不理想。 第五章 控制图的判断准则 控制用控制图 从数学的角度看： 分析用控制图的阶段就是过程参数未知的阶段， 而控制用控制图的阶段则是过程参数已知的阶段。 第五章 控制图的判断准则 判稳准则 连续25个点，界外点数d=0 连续35个点，界外点数d=1 连续100个点，界外点数d=2 当然，即使在判稳时，对于界外点也必须按第二节的“20字方针”去作。 第五章 控制图的判断准则 判异准则 第一类判异准则：点出界就判异 第二类判异准则：界内点排列不随机判异 第五章 控制图的判断准则 准则一 一点落在A区以外 一点落在A区以外 第五章 控制图的判断准则 准则二 连续9点落在中心线同侧 第五章 控制图的判断准则 准则三 连续6点递减 连续6点递增 第五章 控制图的判断准则 准则四 连续14点中相邻两点上下交错 第五章 控制图的判断准则 原因：数据分层不够，相邻数据来自不同总体 准则五 连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区之外 第五章 控制图的判断准则 准则六 连续5点中有4点落在中心线的同一侧的C区外 第五章 控制图的判断准则 准则七 连续15点在C区中心线上下 第五章 控制图的判断准则 原因：数据分层不够，同组数据来自不同总体的复合 由于均值复合使其集中，组内极差加大放大了控制限 複合 第五章 控制图的判断准则 准则七原因示意图：数据分层不够 准则八 连续8点在中心线两侧，但无一在C区中 第五章 控制图的判断准则 原因：数据分层不够，不同子组数据来自不同总体 不同子组均值差异大，组内极差小缩小了控制限 常用休哈特控制图一览表 第六章 常用修哈特控制图的详解 “n”=10~25 确定控制特性 数据属性 计件或计点 单位大小 是否一定 “n”是否一定 样本大小 n≧2 均值易于 计算否？ “n”是否较大 u c或 u P或 np p X-Rm 计数值 计量值 “n”=1 n≧1 N Y “n”=2~5 计点值 计件值 不一定 一定 一定 不一定 控制图的选择示意图 第六章 常用修哈特控制图的详解 常用控制图的种类及其用途 对于计量数据而言，这是最常用最基本的控制图。 它用于控制对象为长度、重量、强度、纯度、时间、收率利等计量值的场合。 Xbar控制图主要用于观察正态分布的均值的变化 R控制图用于观察正态分布的分散情况或变异度的变化 而Xbar －R图则将二者联合运用，用于观察正态分布的变化 （1）Xbar－R控制图 不合适的控制图不如不用；针对不同的情况，选择恰当的控制图种类 第六章 常用修哈特控制图的详解 常用控制图的种类及其用途 与－R控制图相似，只是用标准差（s）图代替极差（R）图而已。 极差计算简便，故R图得到广泛应用，但当样本大小n10，这时应用极差估计总体标准差σ的效率减低，需要应用s图来代替R图。 现在微机的应用已经普及，s图的计算已经不成问题，故－s控制图的应用将越来越广泛。 （2）Xbar－S控制图 不合适的控制图不如不用；针对不同的情况，选择恰当的控制图种类 第六章 常用修哈特控制图的详解 SPC中常用统计分布 第三章 SPC相关统计基础知识 总体 平均值=μ 标准差=σ μ μ+ks μ-ks 抽样 正态分布基础知识 第三章 SPC相关统计基础知识 0.27% 99.73% μ±3σ 1.00% 99.00% μ±2.58σ 4.55% 95.45% μ±2σ 5.00% 95.00% μ±1.96σ 31.74% 68.26% μ±1σ 50.00% 50.00% μ±