智慧系统课程模组.DOCVIP

實驗介紹 （一）雷射位移計量測 實驗目的 本實驗利用雷射位移計做為量測具，使同學了解如何運用雷射光之特性及三角測距法原理(Triangulation) 做為量測應用之依據，並實際依據所選用的位移計有效量測範圍，應用於一些微小物體表面高低、厚度及外形輪廓的檢測。 使用儀器 雷射測頭 (LB 02) 雷射位移計控制器（LB 62） ADDA卡 (DAQCard-6062E) NOTEBOOK 人機介面（Labview） 實驗原理 利用雷射光為一平行單色光束之特色，將雷射與位置感測器（PSD）結合成位移計，做為量測柔軟或微細物件之工具有很大的優越性，當雷射光照射在被測物件表面之上，沿著反射角方向的反射光強度，有二種表面反射模式: （一）鏡射式反射( Specular )（二）散射式反射( Scattering )。鏡射式反射主要發生在如鏡面的表面上，入射光的方向等於反射光的方向。散射式反射則發生在非鏡面表面，即具有粗糙度的工作表面上（一般工件）。通常雷射位移計就是利用散射式反射原理而設計，並採用三角測距法原理(Triangulation) 做量測應用。雷射光束投射在任一表面產生光點，部分的雷射光自表面上散射(Scattering)，然後經過透鏡的聚焦後投影於光檢測器上。若此待測表面作一上下△y的位移量，則光點沿著雷射光束的路徑方向移動，而相對造成檢測器（PSD）上的光點沿檢測測器（PSD）作一Δx的位移。其中Δy與Δx成正比。這種在檢測器（PSD）上的位移就可以改變不同輸出電壓，因而對應出表面的位移量，應用此一特性在高低起伏的自由曲面外形量測時，可以量測出表面上各點的位置，這正是簡單的光學三角量測法原理（圖一）。 量測實驗程序 本實驗所用之雷射位移計是使用波長為780nm之紅外線半導體雷射作為光源，藉由照射到物體後接收其反射光以量測雷射頭與物體之間的距離，其量測範圍在正負40mm之內，在量測範圍內時其警示燈為黃色，超出量測範圍時其警示燈為紅色，若在量測範圍的中心點則其警示燈為綠色。 在不同週期500ms、20ms及0.7ms時，其解析度分別為10μm、40μm及180μm。其輸出為電壓值，範圍在-4V到+4V之間（0.1V/mm），與量測所得距離成線性關係。 實驗步驟 設雷射位移計：將雷射位移計裝在夾具上，在這個步驟要確保位移計和待測面是垂直的，否則量出的數據是沒有用的可使用直角規來校正儀器。 接電源線及訊號線：要將電源線接到電源供應器上，以及將訊號線接在電表上以做校正的工作。 正：校正雷射位移計，首先用手動，使位移計的燈號呈現綠色，黃色是在範圍內，紅色則是在範圍外，在找到電壓直是０ｖ的地方，將此點定為零點。利用的工具是步進馬達，可以很輕鬆的移動到量測的範圍，量測範圍是＋／－４０㎜，電壓則是＋／－４ｖ，我們利用調整焦點及振幅，調到正確的電壓直即可。 雷射探頭須校正注意事項： A、零點(ＺＥＲＯ)校正：設定雷射位移計某一距離為零點。 B、測距(ＳＰＡＮ)校正：設定待測物距離零點之位移量。 步進馬達作動原理 Ａ．馬達轉一圈相對於X table之位移量為0.0025mm，故位移1cm步進馬達需4000轉。 B、馬達控制程式可設定其轉速、位移量及執行次數。 量測待測物的距離：用雷射位移計量測距離 馬達位移控製程式 步進馬達及X table 開始進行量測。 量測完畢時請先關閉雷測探頭電源 本實驗所用之雷射位移計是使半導體雷射作為光源，其量測範圍在正負40mm之內，在量測範圍內時其警示燈為黃色，超出量測範圍時其警示燈為紅色，若在量測範圍的中心點則其警示燈為綠色。在不同週期500ms、20ms及0.7ms時，其解析度分別為10μm、40μm及180μm。其輸出為電壓值，範圍在-4V到+4V之間（0.1V/mm），與量測所得距離成線性關係。 量測實驗結果 LabVIEW動態實驗紀錄 討論與練習 設計量測滑鼠墊的厚度及變化。 （二）雷射干涉儀量測 實驗目的　 ??? 學習如何構建麥克遜干涉儀並用以測定雷射光源之波長及物質的折射率。 實驗原理　 ? ??? 將光線射向一面分光鏡片，將光束分為透射光與反射光， 之後經由兩面反射鏡將光束反射回分光鏡，在這片分光鏡上透射光與 反射光複合時產生干涉，而分光鏡到兩面反射面的距離決定了光程差，即決定了複合後為相消或相長干涉。 實驗儀器 ???? 麥克遜干涉儀，其中包括 　 雷射×1　 壓克力板×1 　 轉動平台×1 　 光束分離鏡×2 　 微調控制反射鏡×2 　 偏光片×1 　 電源供應器×1 　 屏幕片×1 實驗程序 一.架設麥克遜干涉儀（請參考附圖一、二）