第五篇工艺规程设计工艺尺寸链计算.pptVIP

上工序尺寸公差（Ta）的影响 上工序各表面相互位置空间偏差（ ea ）的影响 第一种 探索法（求工序尺寸上下偏差） 从设计尺寸两端向下探索，遇到箭头拐弯，遇到基准点继续向下，直至交于一点。所走过的路径就是保证设计尺寸的尺寸链的组成环，设计尺寸是封闭环。 按照 分配公差。 第一种 探索法（求工序尺寸上下偏差） 从设计尺寸两端向下探索，遇到箭头拐弯，遇到基准点继续向下，直至交于一点。所走过的路径就是保证设计尺寸的尺寸链的组成环，设计尺寸是封闭环。 按照 分配公差。 第二种 探索法（求余量变动范围） 从余量所对应的尺寸的两端向下探索，遇到箭头拐弯，遇到基准点继续向下，直至交于一点。所走过的路径就是组成余量尺寸链的组成环（包括余量所对应的尺寸），余量是封闭环。 第三种 探索法（求工序平均尺寸） 从所求尺寸两端向上探索，不拐弯。直至设计尺寸。 总结： 一个目的：求工序尺寸及上下偏差。 二项基本要求： 1）按照所求尺寸加工后的零件满足设计要求； 2）确定的工序尺寸公差符合经济加工精度。 三种探索方法： 1）求工序尺寸上下偏差； 2）求余量变动范围； 3）求工序平均尺寸。 四个步骤： 1）求工序尺寸上下偏差； 2）求余量变动范围； 3）求平均余量； 4）求工序