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·技艺交流·Ξ等静压成型日用瓷釉面针孔的显微结构分析ΞΞ汪用瑜+夏光华缪松兰徐乃平(景德镇陶瓷学院·333001) (+ 江西省陶瓷研究所·333001)摘 要本文通过对等静压成型素坯、釉层显微结构的观察与测试, 探讨了釉中气泡与釉面针孔的关系。 提出了降低釉面针孔的措施。等静压成型 釉面针孔 显微结构关键词的不足。 并从一系列釉料试验配方中挑出一个釉面质量优良针孔极少的样品。根据观察得知, 无论是针孔多还是针孔少的釉, 釉中气泡 普遍存在, 只不过是气泡的大小及分布特征直接影响着釉面 针孔的形成。对于厂家样品, 釉面不平滑, 呈波纹状。镜下见到 许多小凹陷, 呈麻坑状, 在这些缺陷点之下釉层内都呈现较大气泡的形像。 釉中气泡多为? 20～ 30Λm , 少量大于? 35Λm ,分布不均匀, 多见釉下层附近。 有一些残余晶粒。 釉层厚度0115～ 0. 2mm。 而试验样品釉面针孔极少, 釉中气泡大多为 ? 20Λm 以下, 细小且分布均匀。 偶见一些较大气泡。 残余晶 粒极少, 见一些极细新晶形成。 釉层厚度约 0132mm , 如图 1。 当釉中气泡大于? 30Λm 时便成为肉眼可见的釉面针孔。21112 釉料的颗粒级配与熔融性能 (1) 釉料的颗粒级配: 见表 1。 (2) 釉料的熔融范围: 见表 2。前言1目前, 国内日用瓷等静压成型, 因生产技术、管理水平等因素的影响, 产品釉面针孔缺陷明显。为此, 我们以景德镇某生产厂家为研究对象, 对其产品进 行显微结构观察, 对其坯、釉料进行定点烧成试验, 了解它们 的显微结构变化, 期望能找出釉面针孔产生的主要原因和减 少釉面针孔的有效措施。试验内容2211 样品观测21111 显微镜下观察 为了更直观地反映釉中气泡的分布特点, 我们采用体视显微镜 (斜照光源斜置样品) 与偏光显微镜相结合。 前者可直 接反映釉层气泡的主体形貌、分布特点, 在一定程度上弥补了 偏光显微镜因薄片等原因而不能完全显示釉中气泡空间分布表 1 釉料颗粒分布测试 (% )Ta b le 1 P a rt ic le s ize d is t rib u t ion of g la ze (% )表 2 釉料熔融范围的测定 (℃)Ta b le 2 M e lt ing tem pe ra tu re ra ng e of g la ze21113 加热过程中釉层显微结构的变化为了进一步了解釉中气泡的来源、变化, 根据工厂釉料的 熔融特性, 采用定点烧成法获得了一批试样。每个试样均保温 三十分钟后取出冷却。从釉料自软化起, 釉层中就充满了许多气泡, 并随温度的上升, 气泡密集程度基本上是由稀疏到密集再到较稀疏。气泡 尺寸由小到大变化, 多为 10～ 20Λm , 少量大于 30Λm , 且多见 于釉下层附近 (见图 2)。收稿日期: 1997—08—07ΞΞΞ 男, 讲师试 样开始收缩开始圆角圆角半球扁平二格工厂釉料9801140126413181352试验釉料9401175129013421360试 样真密度 1Λm1～ 5Λm5～ 8Λm8～ 15Λm工厂釉料21724101141143312711试验釉料21630121756162917015中国陶 瓷1997 年第 6 期·26·面缺陷。312 釉中气泡根据镜下观察, 工厂样品釉面针孔细小而量多, 呈浅显的 凹陷, 似麻坑状, 且每个缺陷点之下釉中都呈现较大气泡的形 像。据前苏联学者的研究, 釉面的坑洼不是气体逸出釉面的痕 迹, 而是升至釉面的气泡在冷却时体积收缩所致, 若整个气泡缩回釉中, 则造成釉面凹陷麻坑。这与我们所见的釉面针孔凹坑特点相符。3结果分析与讨论311 釉层残余晶粒镜下观察, 厂家样品釉层中残余晶粒较多, 主要原因之一 是釉料颗粒偏粗, 其中部分硬质料 ( 石英) 的颗粒未完全熔融而残留在釉中。从图 1 中可知, 釉层内残留的大小不一鹅卵石状的石英晶体, 它们的存在会明显地降低釉面光泽, 易产生釉(a) 厂家样品(b ) 试验样品图 1两种不同样品的坯釉 (250×)、釉层 (160×)OM 照片〈偏光〉F ig. 1 M ic ros t ruc tu re of b od y a nd g la ze , g la ze w ith tw ic e d iffe re n t s am p le我们知道, 釉中气泡总是存在的, 关键在于控制气泡的尺寸大小。 从定点烧成试验看, 自釉料软化起, 釉层中就出现了 许多气泡, 并一直存在于坯体的烧结过程中, 只不过气泡的分 布, 数量随温度升高呈现规律性变化。那么, 根据生产实际, 我 们认为釉面针孔形成的主要原因有两个方面: 一是素烧坯体