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统计过程控制教学课件PPT
使用控制图的好处 合理使用控图: 供正在进行过程控制的操作者现场使用 有助于过程在质量和成本上能保持稳定 并可预测该过程在未来阶段发展的趋势 为讨论过程的性能和特性提供共同语言 区分变差的特殊原因和普通原因,作为采取局部措施或对系统采取措施的指南 2. 计算控制界限 2.2计算上,下控制限 UCL LCL 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格品率 P 图 UCLP = n p n n p 样本数 不合格品 率均值 LCLP = p 3 3 P(1- P) P(1- P) 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格品率 P 图 UCL = 0.0561 LCL = =0.0087 P = 0.0324 UCL LCL P 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格品率 P 图 3. 过程控制图解释 3.1 分析数据点,找出不稳定的证据 3.1.1超限的一般原因 控制限算错 点描错 测量系统改变 评价系统改变 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格品率 P 图 3. 过程控制图解释 3.1 分析数据点,找出不稳定的证据 3.1.2超上限时要注意的原因 可能过程性能恶化 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格品率 P 图 3. 过程控制图解释 3.1 分析数据点,找出不稳定的证据 3.1.3超下限时要注意的原因 可能测量系统变化 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格品率 P 图 3. 过程控制图解释 3.1 分析数据点,找出不稳定的证据 3.1.4 长链数据 连续七点的倾向性趋势 控制限内集中于一侧的现象 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格品率 P 图 3. 过程控制图解释 3.1 分析数据点,找出不稳定的证据 3.1.5 非随机数据 取样分层有误差 数据人为编辑 计算描点错误 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格品率 P 图 3. 过程控制图解释 3.2 寻找并纠正特殊原因 关注目标: 注意奇异点 分析方法: 排列图,因果图... 借鉴估计: 历史数据 ? 统计过程控制 Statistical Process Control SPC X-R 图 2.计算控制界限 UCLR = D4R LCLR = D3R UCLX = X+A2R UCLX = X-A2R ? 统计过程控制 Statistical Process Control SPC X-R 图 3.过程能力解释 过程标准差估计值 σ= R d2 R 极差均值 d2 常量 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 计量型数据控制图 单值和移动极差图(X-MR) 适用于过程数据测量成本很高,或测量是破坏性的 统计过程控制 Statistical Process Control SPC X-MR 图 1. 原始数据收集 X 单值读数 适用于每个测量成本很大 或测量的结果是破坏性的 输出的数据相对比较稳定 统计过程控制 Statistical Process Control SPC X-MR 图 1. 原始数据收集 MR 移动极差 MR = Xn - Xn-1 如: 16 ,2,14, 2,16, 4,12 ,5,17 ,5,12 统计过程控制 Statistical Process Control SPC X-MR 图 2.计算控制界限 UCLMR = D4R LCLMR = D3R UCLX = X+E2R LCLX = X- E2R R 移动平均极差 X 过程均值 D3 D4 E2 常量 统计过程控制 Statistical Process Control SPC X-MR 图 3.过程能力解释 过程标准差估计值 σ= R d2 R 移动平均极差 d2 常量 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 计量型数据的过程能 力和过程性能的理解 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 一个受控制的即统计稳
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