应用于微细流场的全息荧光粒子图像三维测速系统研究.pdfVIP

中圈_T程熟物理学会 传热传质学 第r一届学术会议 编寸：053393 应用于微细流场的全息荧光粒子图像三 维测速系统+ 。 罗锐，孙艳飞，杨献勇 清华大学热能工程系，北京100084 摘要：利用亚微米荧光示踪粒子的离焦微细观测时的衍射图样，可以分析确定荧光粒子 垂直于图像平面的轴向的位置，实现对示踪粒子的三维定位，从而利用全息荧光粒子图 像测速技术实现流体速度分布的三维测量。 关键词：／a-PIV、荧光粒子、全息、微细流道。 1、前言 随着大规模集成电路冷却、生物分析芯片、微机械电子系统和芯片实验室 为～种标准的微细流场测速方法，荧光粒子图像测速技术(LIFPIV)已广泛应用于微细 流道等流场的速度分布测量111。荧光粒子图像测速技术通常采用Ⅱ微米荧光粒子作为示 踪粒子，采用高强度的单(准)色光激发粒子的荧光染料，使粒子发出波氏不同于激发 光的荧光(通常波长比激发光长)，用特殊的压制滤光片将激发光滤掉而允许荧光进入 观察目镜或摄像机，实现对荧光粒子的观测。 像普通粒子图像测速技术(PIV)，荧光粒子图像测速技术也是～种二维测速技术， 其在第三维上却不像PIV那样由片光源定位，而是依靠显微系统本身焦点深度(景深) 很小通过调焦来实现“J。尽管在微细流道中的流体流动大多为二维层流，但真正的三维 微细流场也不鲜见。另一方面，随着示踪粒子持续变小(已有lOOnm直径的粒子应用)， 示踪粒子运动是三维的Brown运动，尽管我们可以通过一些处理方法平均掉Brown运 动对测速的影响，但是我们仍期待可以跟踪示踪颗粒三维运动的技术。 本文通过分析荧光粒子的荧光衍射现象，利用粒子荧光离焦(Defocus)衍射图样 确定粒子在垂直于图像平面的轴向位置，实现了对荧光示踪粒子的三维定位。该技术实 际上是显微荧光粒子图像测速技术和全息粒子图像测速技术的结合ljl…。 2、基本原理 全息粒子图像测速技术是基于单色光(通常是激光)的干涉性质，通过粒子图像所 产生的衍射图样分析粒子距离成像平面的距离(衍射距离)来实现轴向定位。因此，要 求光波具有一定的相干欧度。尽管粒子荧光不是很理想的单色光，但是其线宽仍然较窄， ’本文工作由国家自然科学基金资助(项目批准号 1424 可以满足同轴全息所要求的相干性。我们采用的荧光粒子，所激发山的荧光的中一Ii,波|丈 ；L △五 干K度L=8670nm，达到17个荧光波长，完全可以产生比较完整的衍射图样。 如果将荧光粒子作为一个衍射光源，其衍射成像的形式与酱通全息粒子图像测试技 术的不同，光波干涉仅发生在粒子发出的荧光之问，而不包括入射光波(一股是准直的 激光)与衍射光波之间的干涉。荧光衍射图样可以借助相干光通过圆孔的衍射理论来分 析。如图1示，荧光粒子作为衍射光源，相当于一个荧光发射的点光源，此点光源反射 的球面光波经显微物镜衍射成像于后焦平面的CCD成像平面，设粒子的离焦量是Z，衍 射图样沿径向的光强分布可以近似地写成口J： F1】 ]2 zP,]。(；v)pdp (1) 坳，v)=CJpjiu J L； j ^ since。是物镜的数值孔径(对空气，nzl)。 “：!三zsinzf!奠)；这里，N．A．=n 五 2 点光源经物镜圆孔Fresnel衍射图样是明、暗条纹组成的图像，随着离焦量Z的变 化，条纹的明暗、宽度都将发生变化，据此可以由分析衍射图样的图像确定离焦量z， 也就是粒子的垂直于图像(焦平面