CMOS工艺片上传输线研究.pdfVIP

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  • 2018-04-07 发布于北京
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第36卷第6期 东南大学学报(自然科学版) V01.36No.6 2006年“月 JOURNALOFSOUTHEAST Science Nov.2006 UNIVERSrrY(NattlralEdition) CMoS工艺片上传输线研究 陈 勖 王志功 李智群 (东南大学射频与光电集成电路研究所,南京210096) 摘要:对深亚微米硅基cM0s工艺集成电路中常用的微带线和共面波导2种传输线结构进行了 CMOs工艺制作了特征阻抗分别 研究.从理论上分析了传输线分布参数和损耗,利用O.13“m 测试技术进行测试.利用分布参数电路模型和测试得到的S参数提取出了特征阻抗、衰减常数、 品质因数等传输线基本参数.研究结果为设计者选择和设计高性能传输线提供出可借鉴的实用 性模型. 关键词:cM0s工艺;微带线;共面波导;

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