数电实验（华南理工大学）时序逻辑器件功能测试及其简单应用.pptVIP

华南理工大学电工电子实验中心 电力数字电子技术实验(时序电路) 时序逻辑器件功能测试及其简单应用 一 实验目的 1.熟悉计数器、移位寄存器的功能及使用方法。 2.掌握时序逻辑部件的测试方法。 3.学会简单时序电路的设计及实验方法。 二 预习要求 1.复习时序电路的工作原理及其分析、设计方法。 2.按设计题目要求设计电路，画出电路图，并确定所采用的器件。 3.拟定测试电路逻辑功能的步骤。 4.复习双踪示波器测试多路信号波形的方法。 5.列好所需的记录表格，画好所需的坐标。 三 实验器材 1.DG1022数字双踪示波器。 2.TPE-AD3多功能数/模学习机、数电专用实验板。 3.VC8145B数字万用表。 4.四2输入与非门74LS00，2-5-10进制计数器74LS90，四位二进制同步可预量计数器74LS161，四位双向可逆移位寄存器74LS194，双BCD码加计数器CD4518。 5.列好所需的记录表格，画好所需的坐标。 1.2-5-10进制异步计数器功能测试 四 实验内容及步骤 集成计数器74LS90的逻辑图 集成计数器74LS90功能介绍 （1） 二进制 （2）五进制 （3）十进制 时钟 输出 CP1 Q3 Q2 Q1 0 0 0 0 1 0 0 1 2 0 1 0 3 0 1 1 4 1 0 0 5 0 0 0 时钟 输出 CP0 Q0 0 0 1 1 2 0 集成计数器74LS90的逻辑功能 S S S S 集成计数器74LS90的引脚图 二进制时钟信号 五进制时钟信号 清零输入端 置9输入端 计数输出端 CLKA S9(1) S9(2) CLKB QA QD QB QC 手动按单脉冲，观察灯的变化是8421BCD十进制计数 8421BCD码 5421BCD码 十进制计数（两种接法） 手动按单脉冲，观察灯的变化是5421BCD十进制计数 反馈归零法(复位法)设计五进制计数器 ： 按图1-35接线，记录、分析其计数功能。 反馈置9法 设计六进制计数器 ： 按图1-36接线，记录、分析其计数功能。 74LS161管脚排布 2.四位二进制同步计数器74LS161的功能测试 功能表 输入 输出 C LD CLR P T QDQCQBQA × × 0 × × 全零 0 1 × × 预置数 1 1 1 1 计数 × 1 1 0 × 保持 × 1 1 × 0 保持 功能测试图 按下图连好线后测试74LS161的功能 输出端通过灯的亮灭显示 L2 L3 L4 74LS161 A B C D CLR LD T P 通过开关控制输入端变化及功能端的状态 L2 8421码/十进制计数译码显示 将74LS161接上电源；将计数器74LS161的输出端QD QC QB QA电平指示灯相连；计数器74LS161上的C接计数脉冲，接上合适的外部反馈电路；拨动逻辑电平开关SW1～SW4，将74LS161置于计数状态后，依次输入10个脉冲，填入自拟表格中。 按下图连好线后测试74LS161的功能 输出端通过灯的亮灭显示 L2 L3 L4 74LS161 A B C D CLR LD T P 通过开关控制输入端变化及功能端的状态 L2 8421二/十进制 用复位法将74LS161设计成六进制计数器 ： 观察记录各输出的状态，填入自拟表格中。 用置位法将74LS161设计成六进制计数器 ： 观察记录各输出的状态，填入自拟表格中。 参考P177 3.四位双向可逆移位寄存器74LS194的功能测试 00 161 接实验箱 5V电源 指示灯 电平开关 单脉冲输入 00 161 90 1.芯片使用前不进行功能好坏的检测。 2.电源连接不正确，接地点接到-5V上或接到模拟电子实验箱的电源上，非常危险，上电后芯片可能烧毁。 3.逻辑开关电平前的发光二极管不亮，检查进入数字实验箱的电源连接线断。 4.实验箱电源连接正确，电路自查确定无误后，电路验证还是不正确的情况下进行下面的排错检查： (1)检查芯片的电源和地的电平是否正确（注意电源和地的引脚号）。 (2)芯片的置数端和清零端是否连接正确。 (3)时钟信号输入是否正确。 (4)从输出端按逻辑功能状态往前一步一步排查。 五 常见问题 1.各器件的功能测试均要画出逻辑图，列出状态表。 2.对实验过程中出现的问题进行分析讨论。 3.回答思考题，按要求写好实验报告。 六 实验总结 思考题： 用74LS90实现任意模（M）计数器的方法。 用复位法或级联法实现8421码模15计数器，计数过程用发光二极管显示，实验结果用状态表表示。