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实验13 直流电机测速实验
实验13 直流电机测速实验
一.实验目的
了解直流电机工作原理;了解光电开关的原理;掌握使用光电开关测量直流电机转速。
二.实验设备
Star PCI9052、DMA $ 32 BIT RAM板卡一套、Star ES-PCI模块一块、STAR ES598PCI实验仪一套、PC机一台
三.实验内容
1、转速测量原理:
图1 强反射 图2 弱反射 图3转盘 本转速测量实验采用反射式光电开关,通过计数转盘通断光电开关产生的脉冲,计算出转速
(1) 反射式光开关工作原理:光电开关发射光,射到测量物体上,如果强反射,如图1,光电开关接收到反射回来的光,则产生高电平1;弱反射,如图2,光电开关接收不到反射回来的光,则产生弱电平0。
(2) 实验方法:本实验转速测量用的转盘在下表面做成如图3样子的转盘,白部分为强反射区,黑部分为弱反射区,转盘每转一圈,产生4个脉冲,每1/4秒计数出脉冲数,即得到每秒的转速。(演示程序中,LED显示的是每秒钟转速)
2、实验过程
(1) 由DAC0832给电机供电,使用光电开关,测量电机转速,再经调整,最终将转速显示在LED上。
(2) 通过按键调节电机转速,随之变化的转速动态显示LED上
四.实验原理图
五、实验步骤
1、主机连线说明:
B3区:CS —— A3区:CS1 B3区:A0、INT —— ES-PCI:A0、IRQ B3区:INTA —— C3区:Y1 C3区:G2A、G2B —— ES-PCI:A7、IOR C3区:A、B、C、G1 —— C1区:GND、GND、GND、VCC C5区:CS(8253) —— A3区:CS2 C5区:A0、A1 —— ES-PCI:A0、A1 C5区:GATE0、GATE1 —— C1区:VCC C5区:CLK0 —— B2区:31250Hz C5区:CLK1 —— B2区:1M C5区:OUT0 —— B3区:IR0 F3区:CS —— A3区:CS3 F3区:OUT —— E2区:IN1 E2区:OUT1 —— F1区:CTRL F1区:REV —— B3区:IR7 E5区:CLK —— B2区:2M E5区:CS —— A3区:CS5 E5区:A0 —— ES-PCI:A0 E5区:A、B、C、D —— G5区:A、B、C、D 2、由DAC0832经功放电路驱动直流电机,计数光电开关通关次数并经过换算得出直流电机的转速,并将转速显示在LED上。
3、G5区的0、1号按键控制直流电机转速快慢, (最大转速≈96r/s,5V,误差±1r/s)
六、演示程序 (完整程序见目录SPEED)
;键盘、LED显示子程序请参阅综合实验一 .MODEL TINY EXTRN CMD_8279:WORD, DATA_8279:WORD EXTRN Display8:NEAR, SCAN_KEY:NEAR,GetKeyA:NEAR PCIBAR1 EQU 14H ;PCI9052 I/O基地址(用于访问局部配置寄存器) PCIBAR3 EQU 1CH ;8位I/O空间基地址(它就是实验仪的基地址, ;也为DMA 32 BIT RAM板卡上的8237提供基地址) PCIIPR EQU 3CH ;IRQ号 INTCSR EQU 4CH ;PCI9052 INTCSR地址 mask_int_9052 EQU 24H Vendor_ID EQU 10EBH ;厂商ID号 Device_ID EQU 8376 ;设备ID号 VoltageOffset EQU 5 ;0832调整幅度 .STACK 200 .DATA IO8259_0 DW 00F0H IO8259_1 DW 00F1H RD_IO8259 DW 0000H Con_8253 DW 00E3H T0_8253 DW 00E0H T1_8253 DW 00E1H DA0832 DW 00D0H IO_Bit8_BaseAddress DW ? PCI_IO_BaseAddress0 DW ? PCI_IRQ_NUMBER DB ? INT_MASK DB ? INT_Vector DB ? INT_CS DW ? ;保护原中断入口地址 INT_IP DW ? msg0 DB BIOS不支持访问PCI $ msg1 DB 找不到Star PCI9052板卡 $ msg2 DB 读PCI9052 I/O基地址时出错$ msg3 DB 读8位I/O空间基地址时出错$ msg4 DB 读IRQ号出错$ buffer DB 8 D
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