使用吸盘上料铺设对碎片率影响的分析报告2013-11.docVIP

使用吸盘上料铺设对碎片率影响的分析报告 一、数据统计 11月18—22日3#与6#铺设线使用吸盘上料（因气源压力不足，19日夜班与20白班未用吸盘），4#与5#铺设线手动上料，针对这一周EL检测仪检测出电池片隐裂的组件进行数据汇总并对比，3、4#线多晶250P60和5、6#线多晶290P72两个不同型号的组件，重点对发生隐裂的电池片在组件上的位置进行了统计。根据以下表格的数据，可以发现不管铺设上料使用吸盘与否，两种型号组件隐裂的电池片发生的位置主要集中在灰色区域，即每个串条两端的位置。详细数据如下表： 250P60多晶156组件隐裂位置汇总（3#铺设线使用吸盘） 16 10 10 3 3 7 4 5 4 14 9 4 5 3 1 4 5 12 14 12 8 1 3 0 1 6 2 3 2 3 接 线 盒 7 3 2 2 2 4 8 0 2 23 6 3 2 2 1 3 2 4 5 3 8 1 2 1 0 1 4 1 4 29 250P60组件不同位置隐裂数量占总隐裂数量的百分比（3#线使用吸盘） 串列 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1 5.18% 3.24% 3.24% 0.97% 0.97% 2.27% 1.29% 1.62% 1.29% 4.53% 2 2.91% 1.29% 1.62% 0.97% 0.32% 1.29% 1.62% 3.88% 4.53% 3.88% 3 2.59% 0.32% 0.97% 0.00% 0.32% 1.94% 0.65% 0.97% 0.65% 0.97% 接 线 盒 4 2.27% 0.97% 0.65% 0.65% 0.65% 1.29% 2.59% 0.00% 0.65% 7.44% 5 1.94% 0.97% 0.65% 0.65% 0.32% 0.97% 0.65% 1.29% 1.62% 0.97% 6 2.59% 0.32% 0.65% 0.32% 0.00% 0.32% 1.29% 0.32% 1.29% 9.39% 合计 17.48% 7.12% 7.77% 3.56% 2.59% 8.09% 8.09% 8.09% 10.03% 27.18% 250P60多晶156组件隐裂位置汇总（4#铺设线未用吸盘） 15 5 3 3 3 1 2 0 0 5 5 2 3 2 0 1 4 0 4 8 6 2 3 0 1 2 1 1 1 9 接 线 盒 2 4 2 1 2 0 2 0 2 25 5 2 2 0 0 2 1 1 0 4 7 2 1 1 0 2 1 0 1 21 250P60组件不同位置隐裂数量占总隐裂数量的百分比（4#线使用吸盘） 串 列 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1 8.11% 2.70% 1.62% 1.62% 1.62% 0.54% 1.08% 0.00% 0.00% 2.70% 2 2.70% 1.08% 1.62% 1.08% 0.00% 0.54% 2.16% 0.00% 2.16% 4.32% 3 3.24% 1.08% 1.62% 0.00% 0.54% 1.08% 0.54% 0.54% 0.54% 4.86% 接线盒 4 1.08% 2.16% 1.08% 0.54% 1.08% 0.00% 1.08% 0.00% 1.08% 13.51% 5 2.70% 1.08% 1.08% 0.00% 0.00% 1.08% 0.54% 0.54% 0.00% 2.16% 6 3.78% 1.08% 0.54% 0.54% 0.00% 1.08% 0.54% 0.00% 0.54% 11.35% 合计 21.62% 9.19% 7.57% 3.78% 3.24% 4.32% 5.95% 1.08% 4.32% 38.92% 290P72多晶156组件隐裂分布汇总（6#铺设线使用吸盘） 8 4 7 1 1 2 0 0 2 0 6 5 4 6 4 3 2 1 2 4 0 3 4 15 14 3 4 0 2 1 5 3 1 3 2 6 接线盒 4 0 3 1 2 3 3 2 1 1 2 6 7 4 3 2 2 4 2 3 2 2 3 4 4 2 2 2 2 1 0 2 4 6 3 22 290P72组件不同位置隐裂数量占总隐裂数量的百分比（6#铺设线使用吸盘） 串 列 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 1 3.28% 1.64% 2.87% 0.41% 0.41% 0.82% 0.00% 0.00% 0.82% 0.00% 2.46% 2.05% 2 1.64% 2.46% 1.64% 1.23% 0.82% 0.